Программное обеспечение Olex2 для анализа структуры монокристаллов и визуализации кристаллов. Чжан Цзянвэй. Данные испытаний синхротронного излучения. Метод восстановления исходных изображений. Метод обработки данных различных дифрактометров. Книга по анализу структуры рентгеновских лучей монокристалла.
Цена: 1 554руб. (¥73.5)
Артикул: 628339725491
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:兰兴达图书专营店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥123.82 616руб.
¥ 98 60.841 286руб.
¥ 49.8 32.5687руб.
¥ 38 27.5582руб.
