Низкое мощность высокого разрешения A-D преобразование A-D преобразование A-D преобразование AD

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
- Информация о товаре
- Фотографии


И С Б Н: 978-7-111-58903-7
ISBN штрих-кода: 9787111589037
Дата выпуска: 1 марта 2018 г.
Дата публикации: 2018/3/1
Версия   раз: 1-1
Издательское агентство: издательство машины индустрии
Оригинальный издатель: Спрингер
Название серии: Серия переводов передовых технологий международной информационной инженерии


В этой книге авторы излагают ценные примеры этих инноваций и дают людям возможность увидеть их преимущества при применении к разработке аналого-цифровых (АЦП) преобразователей (АЦП) высокого разрешения.В частности, читатель может найти основной вклад этой книги в: проектирование многошаговых аналого-цифровых преобразователей с использованием обработки и калибровки сигналов с временным чередованием, предложение и реализацию методов DfT (Design for Test) для полной наблюдаемости и управляемости этих преобразователей, метод и проектирование сенсорных сетей, которые могут идентифицировать изменения в параметрах процесса, предложение алгоритмов для оценки изменений процесса с использованием небольших выборок и разработку генераторов тестовых шаблонов для тестирования на уровне пластин.


Переводчик
Оригинальный заказ
Стерильный
Физическое количество символа
Глава 1 Введение 1
1.1 Система преобразования A-D 1
1.2 Разговор о текущем анализе практики дизайна и отладки 4
1.3 Мотор 7
1.4 Состав контента этой книги 8
Глава 2 АЦП-преобразование 9
2.1 Выбор высокоскоростной архитектуры конвертеров с высоким разрешением 9
2.1.1 многоэтапный конвертер A-D 9
2.1.2 Трубопровод A-D Converter 10
2.1.3 Параллельный трубопровод A-D преобразователь 12
2.1.4 Сравнение реализации преобразователя A-D 13
2.2 Комментарии конструкции конвертера с низким напряжением.
2.3 Модуль преобразователя A-D 21
2.3.1 S/H21
2.3.2 Вычислительный усилитель 24
2.3.3 Сравнение блокировки 27
2.4 Конвертер A-D: Резюме 31
Глава 3 Проектирование многошагового аналого-цифрового преобразователя 33
3.1 Многоэтапная архитектура преобразователя A-D 33
3.2 Конструктивные меры предосторожности для нереального многоэтапного конвертера 36
3.3 Передняя схема S/H Стражного перекрестка 39
3.3.1 Время эротической архитектуры 40
3.3.2 Сопоставление единиц S/H 44
3.3.3 Дизайн схемы 49
3.4 Многоэтапный конструкция конвертера A-D 53
3.4.1 Грубая количественная оценка 53
3.4.2 тонкое количественное определение 58
3.5 Промежуточный дизайн и калибровка 67
3.5.1.
3.5.2 остаточный усилитель 69
3.6 Экспериментальные результаты 76
3.7 Резюме 80
Глава 4. Тестирование многоступенчатых аналого-цифровых преобразователей 82
4.1 Моделирование ATPG82 квазистатического структурного теста
4.1.1 Определение стратегии тестирования 83
4.1.2 Линейная модель разлома на основе квазистатического напряжения узла 84
4.1.3 Стандарт принятия решений и оптимизация стимуляции тестирования 92
4.2 Проектирование тестируемых концепций 98
4.2.1 Цепь сканирования мощности DFT100
4.2.2 Экземпляр приложения 105
4.3 Производство вдохновения для Bist Films 113
4.3.1 Непрерывная и дискретная топология времени 114
4.3.2 Проектирование непрерывного и дискретного времени генерации формы волны 123
4.4 Прокомментируйте концепцию встроенного самооценка 131
4.5 Случайный анализ. ГОДУЩАЯ ЦЕПИ ГЛУБА
4.5.1 Используется для анализа варианта процесса случайный MNA136
4.5.2 Случайный MNA138 анализа шума
4.5.3 Пример приложения 140
4.6 Xiaobian 144
Глава 5. Отладка многошагового аналого-цифрового преобразователя 146
5.1 Концепция сенсорной сети 146
5.1.1 Стратегия наблюдения 147
5.1.2 Интегрированный датчик 149
5.1.3 Окно и ограничение заявки 152
5.1.4 DLPM CUSTER DEAST 155
5.1.5 Датчик температуры 160
5.2 Оценка изменений в процессе 163 шаблона.
5.2.1 Алгоритм максимизации ожидания 163
5.2.2 Оценка лимита машины 166
5.3 Многоэтапная отладка на уровне устройства A-D 168
5.3.1 Стандарт качества 168
5.3.2 Метод оценки 169
5.4 DFT используется для полного доступа к многоэтапному конвертеру 173
5.4.1 Блок контроля тестирования 177
5.4.2 Блок управления тестированием моделирования 178
5.5 ВРЕМЯ ПЕРЕМЕРИТЬ СИСТЕМА.
5.6 Калибровка перспективы 184
5.7 Экспериментальные результаты 187
5.7.1 Тестовое окно A-D Сгенерация/обновление результатов приложения 191
5.7.2. Абкугирование отладки и калибровки.
5.8 Резюме 202
Глава 6. Заключение и рекомендации 203
6.1 Результаты 203
6.2 Рекомендация и будущее исследование 204
Приложение 205
Приложение 205
A.1 время не соответствует 205
A.2 смещение не соответствует 206
A.3 прирост не соответствует 207
A.4 полоса пропускания не соответствует 207
A.5 Общее выражение 208
Приложение Б 208
B.1 Используйте синусоидальную волновую преобразователь нелинейный измерение гистограммы 208
B.2 Ошибка выравнивания 210
B.3 Измерение неопределенности 2111
Ссылка 213





