Источник синхронного излучения и его применение (объем ниже)/Mai Zhenhong ожидание
Цена: 2 137руб. (¥101.1)
Артикул: 643037616363
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:翔坤图书专营店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥1082 283руб.
¥89.81 898руб.
¥1382 916руб.
¥235.44 975руб.
Параметры продукта
| Источник синхронного излучения света и его применение (объем ниже) | ||
 | Используемая цена | 128.00 |
| Издатель | научная пресса | |
| Издание | 1 | |
| Опубликованная дата | Март 2013 года | |
| формат | 16 | |
| Компилятор | Май Чжэнхонг | |
| Количество страниц | 444 | |
| Кодирование ISBN | 9787030365347 | |
Введение
Эта книга организует более 40 человек из трех синхронных излученных устройств материка, чтобы всесторонне ввести генерацию, природу, ускоритель, линии луча и экспериментальные методы, анализ данных, примеры применения и международные тенденции развития синхронного излучения.В книге есть десять глав, которые имеют как основные теории, так и основные принципы, а также экспериментальные устройства и информативные примеры применения.
Каталог
последовательность
Предисловие
Глава 12 Синхронное излучение классов
12.1 Угловой дифференциальный оптический электронный энергетический спектр
12.1.1 Активность основных принципов спектра оптической электроники
12.1.2 Активность активации
12.1.3 Активность прогресса технологии оптического электронного энергетического спектра
12.1.4 Чувствительность поверхности и эффект тела
12.1.5.
12.2 Угловая дифференциальная оптическая электронная энергия Энергия Экспериментальное устройство
12.2.1 Источник света
12.2.2 Электронный анализатор энергии
12.2.3 Ультра -высокая вакуумная система
12.2.4 Угловая угловая система, контролируемая температурой
12.3 Теоретическое описание электронного энергетического спектра угла
12.3.1 Трехэтапная модель и одноэтапная модель
12.3.2 Внезапное аппроксимацию и функция одностороннего спектра
12.3.3 Эффект элемента матрицы
12.4 Экспериментальный анализ данных
12.4.1 Кривая распределения энергии и кривая распределения импульса
12.4.2.
12.4.3 Электронный анализ самоповреждения и*метод большой энтропии
12.5 Приложение CAPE CLASE
12.5.1 Сверхпроводники с высокой температурой со структурой и лапшой Ферми
12.5.2 Сверхпроводники с высокой температурой сверхпроводящие энергетический разрыв
12.5.3. Исследование о разрыве в высокотемпературных сверхпроводниках
12.5.4 Много -тело взаимодействие в высокотемпературных сверхпроводниках
12.5.5 Уголка Изучение электронного структуры других материалов для электронного энергетического спектра
12.6 Заключение
Рекомендации
ГЛАВА 13 Синхронное излучение x -rays Imaging zhu peiping wu ziyu zio zi qiao tian yang hao yu hangsheng li engong hong youli
13.1 Введение
13.2 Физические свойства светового распространения
13.2.1 Двойственность волновых частиц света
13.2.2 Основное блок волнового мешка из луча
13.2.3 Фазовое и фазовое обнаружение света
13.2.4 Как когерентность света
13.2.5 Связанные номера фотонов и яркость
13.2.6 Связь между распространением света и визуализацией
13.3 x -ray Проекционная визуализация
13.3.1 Создание модели проекционной визуализации
13.3.2
13.3.3
13.3.4 Пример применения применения визуализации синхронного излучения
13.4 x -ray "
13.4.1 Разработка x -ray "объектив"
13.4.2 Оптические свойства ряда
13.4.3
13.4.4 x -Ray
13.4.5 x -Ray Microscope Nano CT Трехэнергетический принцип визуализации
13.4.6 Синхронное излучение (полное поле) Мягкий X -Ray -микроскоп
13.4.7 Синхронное излучение (целое) жесткий х -росковой микроскоп
13.4.8 x -ray microscope Пример применения
13,5 x -ray scaning scaning imaging
13.5.1 Небольшое отверстие для получения соответствующих методов освещения
13.5.2 Как получить связанное освещение на большом расстоянии
13.5.3 Метод увеличения численной апертуры x -ray "
13.5.4 Например
13.5.5 Твердый x -ray micro -спектр метод
13.6 Связанные x -Rays без визуализации объектива
13.6.1 x -ray голографическая визуализация
13.6.2 x -ray голографическая визуализация для согласованности
13.6.3 x -ray голографическая визуализация и*близкая разработка
13.6.4 x -ray, связанная с дифракционной визуализацией
13.6.5 Требования к связанной дифракционной визуализации для родства
13.6.6 x -ray, связанная с дифракционной визуализацией, например, приложение
Рекомендации
Глава 14 Синхронное излучение мягкое x -Ray Микропия 邰 ren Zhong Chen Min Xu Zijian
14.1 Введение
14.2 Механизм визуализации мягкого х -стм микро -технологии
14.2.1 Soft x -ray Micro -lining
14.2.2 Линия, доза и повреждение радиации
14.3 Soft x -ray Micro
14.3.1 Ribples
14.3.2 Сканирование мягкого X -Ray Microscope
14.3.3 Парный мягкий X -Ray микроскоп
14.3.4 Другие мягкие X -Ray Microscopes
14.3.5 Преимущества и недостатки нескольких микроэхников
14.4 Шанхайский источник света Soft x -Ray Spectromer, показывающий Micr -Shide Beam Stations
14.4.1 Шанхайский источник свети
14.4.2 Экспериментальная схема станции и экспериментальный метод
14.5 Приложения TXM и STXM
14.5.1 Применение в науках о жизни
14.5.2 Применение в области материальной науки и физики
14.6 Конец слова
Рекомендации
Глава 15 Анализ Структуры Синхронного излучения
15.1 Экспериментальное устройство
15.1.1 Устройство высокого давления
15.1.2 x -ray дифракционное устройство
15.1.3 Линии луча и микроструктура фокусировки
15.2 Экспериментальный метод
15.2.1 Приготовление образца
15.2.2.
15.2.3 Эксперименты по рассеянным рассеянным рассеянным
15.2.4 Эксперимент по рассеянной дифракционной дифракции символов
15.2.5 Эксперимент с лазерным нагреванием ЦАП
15.2.6 Радиальная дифракция x -Ray
15.3 Экспериментальный анализ данных
15.3.1 Преобразование формата данных
15.3.2 Избитый пиковой анализ и ассоциация
15.3.3 Определение параметров кристаллических ячеек
15.3.4 Полная подгонка спектра и утонченность структуры Rietveld
15.3.5 Уравнение статуса подгонка
15.4 Пример приложения
15.4.1 Структура PBCRO_3, Структурное изменение структуры перовскита
15.4.2
15.4.3 Исследования по упругой модели и сильной современной современной современной современной современной
Рекомендации
Глава 16 Вакуумная УФ -оптоэлектроника Технология Ионизации Полет
16.1 Введение
16.2 Технология ионизации синхронного излучения.
16.3 Экспериментальный метод и экспериментальное введение устройства
16.3.1 Введение в линию луча
16.3.2 Устранение высокой гармонии
16.3.3 Введение на экспериментальную станцию
16.4 Применение вакуумной УФ -оптоэлектроники
16.4.1 Применение в исследовании динамики химической реакции
16.4.2 Применение в области сжигания
16.4.3 Оптическая ионизация атмосферного раствора
16.4.4 VUV световой рассеяние частиц нанометра
16.4.5 Низкая диагноз плазмы с низкой температурой
16.4.6 Применение в аналитической химии
16.5 Заключение и перспективы
Рекомендации
Глава 17 Синхронное излучение x -ray магнитный раунд второй раунд -Колор Ян Веншенг Го Южхан Ли Хонггун Ван Йи
17.1 Основные принципы
17.2 Экспериментальное устройство
17.2.1 Круглый поляризационный X -Ray Source
17.2.2 Линия луча
17.2.3 Магнитная система
17.2.4 x -Ray Оборудование для обнаружения поглощения
17.3 Экспериментальная технология
17.3.1 Измерение дорожного и вращающегося магнитного крутящего момента
17.3.2 Эффект насыщения электронного производства
17.3.3 Экспериментальная ошибка в измерении измерения магнитного крутящего момента
17.3.4 Анализ данных
17.4 Пример приложения
17.4.1 Применение в магнитной многослойной мембране и магнитной пленке сплава
17.4.2 Применение в спиновой электронике
17.4.3 Применение в магнитной низкоразмерной системе
17.4.4 Магнитные представители противоположного пола
17.4.5 Измерение цепи магнитной стагнации элементов
17.4.6 Магнитное магическое изображение
17,5 Экспериментальная технология, связанная с XMCD
17.5.1 Оптическая передача магнитная раунда два цвета
17.5.2 x -ray магнитная проволока два -колор
Рекомендации
Глава 18 Синхронное излучение УФ
18.1 Введение
18.2 Экспериментальный метод
18.2.1 Принцип обнаружения
18.2.2.
18.2.3 превосходство SRCD относительно обычного CD
18.2.4 Производительность спектрометра SRCD и его влияние на результаты испытаний
18.2.5 SRCD экспериментальные меры предосторожности
18
18.3.1 Квалификационный анализ
18.3.2 Количественный анализ
18.3.3 Блок CD
18.4 Приложение SRCD
18,5 Время, чтобы отличить SRCD
Рекомендации
ГЛАВА 19 Синхронная технология микроэффективной обработки
19.1 Введение
19.2 Принципы обработки моделирования синхронного излучения
19.2.1 Лига Технология
19.2.2 Технология воздействия высокого уровня x -Ray
19.2.3 x -ray вмешательство литографии технологии
19.3 Технические требования для синхронизации радиационной микро -нанолеумной обработки
19.3.1 Синхронное излучение глубины световой резьбы Технические требования
19.3.2 Технические требования к литографии с высоким разрешением.
19.3.3 x -Ray Interference Lithography Технические требования
19.4 Статус исследования и перспективы синхронной радиационной микро -нанологической технологии обработки
19.4.1 Лига Технология
19.4.2 Технология воздействия высокого уровня x -Ray
19.4.3 x -ray вмешательство литографии технологии
Рекомендации
индекс
