[Синьхуа Книжный магазин Флагманский магазин.
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
- наименование товара:Оптические резьбы, такие как технология обнаружения качества.
- Автор:Wang Siangchao // Dai Fengzhao | Ответственный редактор: Qian Jun // Cui Huixian
- Цена:228.0
- Номер ISBN:9787030673558
- Издательство:Science Press
- Индийский:1
- формат:16
- Количество страниц:481
- Опубликованная дата:2021-03-01
- Время печати:2021-03-01
- Версия:1
Световые резьбы, такие как технология обнаружения качества, являются ключевыми технологиями, которые поддерживают требования оптической резьбы и под -систем для удовлетворения требований разрешения оптической резьбы и точности установки.Эта книга систематически вводит технологию обнаружения изображений фотоессора.Представьте международный основной фотокопический световой носитель, такие как технология обнаружения качества, и вводит серию новых технологий, предложенных командой, подробно охватывая технологии обнаружения, такие как фоторетаточный клей Разница в изображениях, динамическая аберрация изображения, разница в тепловых изображениях и другие методы обнаружения изображений.Эта книга представляет теоретическую основу, принципы, модели, алгоритмы, моделирование и экспериментальную проверку этих технологий.Основываясь на оригинальной и онлайн -технологии обнаружения качества изображений, технология обнаружения изображений в проекционном зеркале также представляет глубокоультравиолетовый тип сушки, машину для вырезанной света погружения и чрезвычайно ультрафиолетовые вырезы света, такие как технология обнаружения качества.
Эта книга подходит для сотрудников научных исследований, инженерных и инженеров, занимающихся исследованиями и применением оптических двигателей. институты.В то же время он может предоставить ссылку для научного и технологического персонала, аспирантов, колледжей и университетов в области современного оптического тестирования, оптической визуализации.
Предисловие
Предисловие
Глава 7 Обнаружение разницы в платформе на основе PMI на основе PMI
7.1 Shack-Hartmann Технология обнаружения
7.2 Технология обнаружения линейных дифракционных помех
7.3 Технология обнаружения интерференций Рончи
7.3.1 Применение в литографической машине
7.3.2 Теоретический анализ поля помех
7.3.3 Технология извлечения фазы
7.3.4 Бокианская технология реконструкции
7.3.5 Дизайн параметров экспериментальной системы и экспериментальные результаты
7.4 Многоканальная технология обнаружения интерференций Рончи
7.4.1 Реконструкция перед редкой волной метода отбора проб
7.4.2 Многоканальный дизайн системы обнаружения
Рекомендации
Глава 8 Обнаружение изображения поляризации
8.1 Влияние статуса поляризации на качество световой гравировки визуализации
8.2 Поляризационные знаки изображения
8.2.1 Состояние поляризации и его метод преобразования
8.2.2 Метод представления матрицы Мюллера
8.2.3 Метод объяснения матрицы Джонса
8.2.4 Метод объяснения матрицы третьего порядка
8.3 Технология тестирования, основанная на воздействии световой глайки
8.3.1 SPLN-BLP Technology
8.3.2 Технология обнаружения на основе маски фазового смены
8.4 Технология тестирования на основе эллиптических измерений
8.4.1 Технология обнаружения зрачка Мюллера
8.4.2 Технология тестирования учеников Джонса
8.5 Технология тестирования на основе измерения космического изображения
8.5.1 Тест на основе объема сдвига на основе пространства
8.5.2 Тест на основе анализа основного компонентного анализа дифференциальных пространств
Рекомендации
Глава 9 Экстремальная ультрафиолетовая выгравированная проекция объекта зеркала
9.1 Технология тестирования на основе измерения помех
9.1.1 Обнаружение точечных дифракционных помех
9.1.2 Обнаружение вмешательства
9.1.3 Обнаружение интерференции Fizeau
9.2 Технология обнаружения, основанная на датчике фронта Hartmann Wave
9.3 Технология тестирования на основе измерения космического изображения
9.3.1 Технология тестирования на основе космического состава
9.3.2 Технология тестирования, основанная на предварительно волновой локальной кривизной измерении
9.4 На основе технологии обнаружения Птихографии
9.4.1 Фундаментальный
9.4.2 Алгоритм восстановления фазы
9.4.3 Формула связи с легким полетом
9.4.4 Моделирование и эксперименты
9.5 Технология тестирования, основанная на воздействии световой глайки
Рекомендации
Глава 10 Как технология ключевого обнаружения качества
10.1 Таблица заготовки Технология обнаружения параметров
10.1.1 Технология измерения внешнего вида поверхности базы заготовки
10.1.2 Технология стабильного тестирования Ченг Шизай
10.1.3 Технология обнаружения
10.1.4 Технология обнаружения параметров по коррекции горизонтальной координат
10.2 Фокусировка сенсорных технологий
10.2.1 Технология зондирования на местоположении небольших щелевых проекций.
10.2.2 Технология датчика расположения гравий
10.3 Силикатный
10.3.1 Самостоятельная технология конфронтации Мур
10.3.2 Метод повышения точности моделирования на основе оптимизации структуры метки
10.3.3 На основе технологии компенсации по ошибке Multi -Channel.
10.4 Технология обнаружения и управления параметрами освещения
10.4.1 Оптимизация параметров освещения
10.4.2 Освещение светового зрачка. Технология обнаружения параметров поляризации
10.4.3 Технология контроля за освещением
10.4.4 Технология контроля дозы воздействия
10.5 Легкая обгромная технология отображаемой визуализации.
10.5.1 Технология оптимизации источника света
10.5.2 Технология оптимизации модели
10.5.3 Модель освещения модели модели совместной оптимизации
10.5.4 Проекционное зеркало модели модели света
10.5.5 Технология многопараметрической комбинированной комбинации технологии
10.6 EUV Lights Cover Model Difruction Technology Technology Technology
10.6.1 Технология моделирования поля недефекционной маски
10.6.2 Содержит технологию моделирования некорректного поля дифракции маски
Рекомендации
PostScript
(Том первый)
Глава 1 введение
Глава 2 Легкая модель визуализации
Глава 3 Обнаружение параметров первичного изображения
Глава 4 На основе разницы в волновых изображениях на основе воздействия светового клея
Глава 5 На основе обнаружения разности изображений измерения на основе пространства.
Глава 6 На основании анализа основного компонентного анализа пространства
