Программное обеспечение Olex2 для анализа структуры монокристаллов и визуализации кристаллов. Чжан Цзянвэй. Данные испытаний синхротронного излучения. Метод восстановления исходных изображений. Метод обработки данных различных дифрактометров. Книга по анализу структуры рентгеновских лучей монокристалла.

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао