Подлинная технология представления инженерных материалов Li Li Li Optical Foundation Microex X -Ray Дифракционный анализ Спектр анализ анализа неразрушающих инженерных материалов обнаружения
Цена: 880руб. (¥48.9)
Артикул: 633066071607
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Продавец:正苑图书专营店
Адрес:Цзянсу
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
- Информация о товаре
- Фотографии