8 (905) 200-03-37 Владивосток
с 09:00 до 19:00
CHN - 1.14 руб. Сайт - 21.13 руб.

ТЕМ Тестирование Профессиональная проключение электроосроскопия испытания испытаний на сайте службы дифракционной точки поверхности может

Цена: 2 113-83 320руб.    (¥100)
Артикул: 44055774895

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао Описание товара
Продавец:yu172014
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Выберите вариацию / цвет
  • Точечный энергетический спектр
  • Линейный энергетический спектр
  • Спектр потерь энергии электронов EELS/час
  • Подготовка проб ФИБ
  • Биологический образец TEM
  • Фаза светлого/темного поля
  • Немагнитная морфология образца + высокое разрешение
  • Отрицательное окрашивание фосфовольфрамовой кислотой ПЭМ
  • Ионно-разжижающая немагнитная подготовка проб + тестирование
  • Ионно-утоняющая магнитная подготовка проб + тестирование
  • Электронная дифракция
  • Немагнитная морфология образца
  • Встроенные разделы
  • Магнитная морфология образца
  • Отрицательное окрашивание на урановую кислоту ПЭМ
  • Замороженные ультратонкие срезы
  • Магнитная морфология образца + высокое разрешение
  • Картографирование поверхностного энергетического спектра
  • Тестирование на месте/час
  • Образец теста FIB
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥90018 909руб.
¥60012 607руб.
¥3006 339руб.
¥200041 860руб.
  • Информация о товаре
  • Фотографии
Цвет: Немагнитная морфология образца, Немагнитная морфология образца + высокое разрешение, Магнитная морфология образца, Магнитная морфология образца + высокое разрешение, Точечный энергетический спектр, Линейный энергетический спектр, Картографирование поверхностного энергетического спектра, Электронная дифракция, Фаза светлого/темного поля, Спектр потерь энергии электронов EELS/час, Замороженные ультратонкие срезы, Встроенные разделы, Отрицательное окрашивание фосфовольфрамовой кислотой ПЭМ, Отрицательное окрашивание на урановую кислоту ПЭМ, Биологический образец TEM, Подготовка проб ФИБ, Образец теста FIB, Ионно-разжижающая немагнитная подготовка проб + тестирование, Ионно-утоняющая магнитная подготовка проб + тестирование, Тестирование на месте/час

Тестовый заказ:

https://pan.baidu.com/s/1YU8eMrV1FkuFsQtgCC3WMw

Производительность оборудования:

1. Разрешение точки: 0,24 нм;
2. Разрешение линии: 0,10 нм;
3. Ускоряющее напряжение: 100, 120, 160, 200кВ;
4. Угол наклона: 25 градусов;
5. Разрешение STEM: 0,20 нм.
Область применения:
Он может наблюдать внутреннюю микроструктуру различных материалов, проводить электронографический анализ и исследования электронной микроскопии высокого разрешения, а также изучать кристаллическую структуру и свойства кристаллов. С помощью энергетического спектрометра он может проводить качественный и полуколичественный анализ микроплощадей различных элементов.Он широко используется в нанотехнологиях, материалах, физике, биологии, химии, окружающей среде, оптоэлектронике и других областях.
Тестовые задания:
Морфологическое исследование (допускаются как магнитные, так и немагнитные образцы)
Дифракция электронов на выбранной области (кольцевая дифракция, точечная дифракция)
Изображения высокого разрешения (доступны как магнитные, так и немагнитные образцы)
Энергетический спектр ЭДС (точечное сканирование, линейное сканирование, зональное сканирование)
Требования к образцу:

Для объемных образцов размер образца должен представлять собой круг диаметром 3 мм и толщиной менее 200 нм.Вниз;

Для порошковых и жидких образцов образец необходимо равномерно распределить на подложке и высушить;

Ионное утонение требует, чтобы образец был толщиной менее 30 мкм и не более 50 мкм, перфорирован до Ф3 мм (клиент шлифует сам). Если вы не можете измельчить его самостоятельно, пожалуйста, компенсируйте разницу на 300 и отправьте дубликаты образцов; Магнитные образцы невозможно приготовить ионным утончением.

Ультратонкие срезы требуют предварительного резервирования оборудования. Пожалуйста, свяжитесь со службой поддержки клиентов перед тестированием образцов;

Биологические образцы можно напрямую фиксировать глутаральдегидом. Наша компания осуществляет подготовку, секционирование и тестирование образцов.

 

Поскольку TEM-EDS представляет собой тест с тонким образцом, он отличается от SEM-EDS и ограничен самим прибором.Для тестирования ТЕМ-картирования могут рассматриваться только образцы, соответствующие следующим требованиям:
(1)Поскольку образцы TEM должны быть приготовлены на медных сетках, покрытых углеродными пленками, образцы, содержащие элементы C и Cu, не могут быть протестированы для картирования;
(2)Поскольку элемент Cu неизбежен и имеет высокое содержание, перед попыткой картирования требуется, чтобы содержание проверяемого элемента обычно превышало 5%;

(3)Поскольку элемент N представляет собой элемент с очень маленьким атомным номером, его трудно обнаружить с помощью ПЭМ. Как правило, содержание элемента N>Обнаружить его можно только в 10% случаев.

Примечание:

1. Пожалуйста, заполните форму проверки подробно, как требуется, и предоставьте ценные данные, фотографии или документы для удобства использования во время тестирования;

2. Если запрос сделан после получения результатов, что приводит к повторному тестированию, взимается дополнительная плата;
3. Если при испытаниях TEM или SEM существуют какие-либо требования к линейке или увеличению, укажите это. Нет никакой гарантии, что форма с низкой вероятностью может быть найдена, и результаты подлежат фактическим измерениям;

Тестовый пример:

- -_- M

 Отображение эталонного изображения:

 

 

- -_- -

- -_- -

- -_- -- -_- -

- -_- --|-_-|-