GB/T36053-2018X Метод отражения лучей измеряет требования к толщине, плотности и ширине интерфейса пленки, стандартов и позиционирования, сбора данных, анализа данных и отчета
Цена: 508руб. (¥24)
Артикул: 608316881070
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:北京建筑图书专营店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥ 16 12.8271руб.
¥ 18 14.4305руб.
¥ 15 11.25238руб.
¥ 36 28.8609руб.
| |||||||||||||||||||||
| | |||||||||||||||||||||
| краткое введение | |||||||||||||||||||||
| Этот стандарт указывает, что толщина плоского основания составляет от 1 нм до 1 с помощью технологии отражения x -Ray (XRR)Μ Этот метод использует монохромный параллельный свет для угла или рассеяния вектора.Аналогичные соображения подходят для использования распределенного детектора для сбора параллельных данных или длины волны сканирования, но этот стандарт не описывает эти методы.Для технологии отражения x -Ray экспериментальные требования аналогичны, но этот стандарт не включает эту часть. Измерение может быть выполнено на устройствах с различными конфигурациями.Эти устройства включают в себя лабораторные инструменты, отражения на линии синхронного радиационного луча и автоматические системы в отрасли. Следует отметить, что во время сбора данных нестабильность тонкой пленки может вызвать точность результатов измерения.Xrr использует одну длину длины волны x -Ray Beam и не может предоставить химическую информацию пленки.Изменения поверхности будут серьезно повлиять на точность самых результатов измерения внешней пленки. | |||||||||||||||||||||