[4 недели] исследования на поверхностях и интерфейсах металла/SI [9783847339328]
Цена: 12 538руб. (¥702)
Артикул: 656969998745
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:澜瑞图书专营店
Адрес:ВЕЛИКОБРИТАНИЯ.
Рейтинг:
Всего отзывов:2475
Положительных:2475
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥1602 877руб.
¥62711 199руб.
¥1412 536руб.
¥63511 342руб.
Книги базовая информация
Investigations at Metal/Si Surfaces and Interfaces
Примечание: Издательство в основном публикует академические документы или примечания к исследованиям, а качество содержания неровно.
автор: Шивани Агарвал;
ISBN13: 9783847339328
тип: Pacific (Jianjian)
Язык: Английский английский)
Дата публикации: 2012-04-27
Издатель: LAP Lambert Academic Publicishing
Количество страниц: 136
Вес / грамм): 208
размер: 22,86 x 15,24 x 0,8128 см.
Обзор книг и резюме
The interaction of semiconductor surfaces with deposited metals is very important for understanding many aspects of the behavior of microelectronic devices. The early stages of metal-semiconductor interface formation are amenable to analysis with surface sensitive techniques. The most important characteristic of metal semiconductor interface is nature of the potential barrier between the Fermi level in the metal and the majority carrier band edge of semiconductor of that interface. The study of metal / semiconductor (Si) reactions are of great importance present in every semiconductor device.The present book is an outcome of investigations of structural, morphological, magnetic and electrical behaviour of metal (Co, Cr, Ni) / semiconductor (Si) system.
