[Pre -Sale] Основы электронного тестирования для цифрового
Цена: 24 196руб. (¥1156)
Артикул: 22771928794
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:观澜墨语图书专营店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥140329 365руб.
¥921 944руб.
¥40846руб.
¥37782руб.
| Product DetailsОсновная информация | |
| ISBN-13Номер книги | 9780792379911 |
| Authorавтор | Майкл Л. Бушнелл, Вишвани Д. Агравал |
| FormatВерсия | Твердая обложка |
| Pages NumberКоличество страниц | Страницы 712 |
| PublisherИздатель | Kluwer Academic Publishers; 1 -е изд. 2000. Corr. 2 -я печать 2004 |
| Publication DateДата публикации | 30 ноября 2000 г. |
| Product DimensionsРазмер товара | 17.8 x 3.8 x 25.4 cm |
| Shipping WeightТоварный вес | 1.4 Kg |
| LanguageЯзык | Английский |
Book Descriptionкраткое введение
Today&Электронные и тестовые инженеры #39 имеют дело с несколькими типами подсистем, а именно: цифровой, памяти и смешанного сигнала, каждый из которых требует различных тестирования и конструкции для методов тестируемости. Эта книга содержит тщательный выбор основных тем по всем трем типам схем. Результатом тестирования является качество продукта, что означает"meeting the user's needs at a minimum cost"Полем Книга включает в себя тестовую экономику и методы для определения уровня дефектов чипов VLSI. Помимо того, что он является учебником для курса по тестированию, это полное руководство для тестирования для инженера, работающего над каким-либо электронным устройством или системой или системой на чипе.