[Pre -Sale] Цифровое тестирование Ciircuit: руководство по DFT и другим
Цена: 12 985руб. (¥618)
Артикул: 19022415481
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:观澜墨语图书专营店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥140329 365руб.
¥491 036руб.
¥921 944руб.
¥40846руб.
| Product DetailsОсновная информация | |
| ISBN-13Номер книги | 9780127345802 |
| Authorавтор | Francis C. Wang |
| FormatВерсия | Твердая обложка |
| Pages NumberКоличество страниц | 228 страниц |
| PublisherИздатель | Academic Press Inc |
| Publication DateДата публикации | 11 августа 1991 |
| Product DimensionsРазмер товара | 15.9 x 1.7 x 23.5 cm |
| Shipping WeightТоварный вес | 535 g |
| LanguageЯзык | Английский |
Book Descriptionкраткое введение
Недавние технологические достижения создали кризис тестирования в электронной промышленности: меньшие по размеру, более высокоинтегрированные электронные схемы и новые технологии упаковки делают физический доступ к испытательным узлам все более трудным. Для следующего поколения электронного оборудования необходимы новые методы тестирования, и развитию этих методов уделяется большое внимание. Некоторые из методов, которые сейчас становятся популярными, включают проектирование с учетом тестируемости (DFT), встроенное самотестирование (BIST) и автоматическую генерацию тестовых векторов (ATVG). Эта книга представляет собой практическое введение в эти и другие методы тестирования. Для каждого представленного метода автор приводит примеры из реальной жизни, чтобы читатель мог получить практические знания о том, как выбирать и применять эти все более важные методы тестирования.