[通过X光散射进行膜分析 结构特性技术 英文原版Thin Film Analysis By X Ray Scattering Mario Birkholz 英文原版 wiley]
Цена: 35 372руб. (¥1690)
Артикул: 648946396334
Доставка по Китаю (НЕ включена в цену):
106 руб. (¥5)
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:中华商务图书专营店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥1082 283руб.
¥47610 025руб.
¥1914 036руб.
¥2425 114руб.
