Технология анализа материалов и тестирование и MDASH; & MDASH; Комитет Министерства образования Департамента по материалам науки и инженерии Министерства образования
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
Название продукта: анализ материалов и технология тестирования Номер ISBN: 9787811057010
Автор: gu yijie Цена:  38,00 Юань
Оглавление:
Глава 1 Обзор анализа материалов и технологии проверки
1.1 Введение
1.2 Обзор методов дифракционного анализа
1.3 Обзор методов анализа электронной микроскопии
1.4 Обзор методов анализа энергетического спектра электронов
1.5 Обзор методов спектрального анализа
1.6 Обзор применения компьютеров в технологии аналитического тестирования
Глава 2 Анализ дифракции рентгеновских лучей
2.1 Основы физики рентгеновских лучей
2.2 рентгеновская дифракционная геометрия
2.3 Интенсивность рентгеновской дифракции
2.4 Метод дифракции рентгеновских лучей
2.5 Анализ дифракции рентгеновских лучей
Упражнение
Глава 3 Анализ тонкого структурного спектра расширенного рентгеновского поглощения
3.1 Основной принцип
3.2 Экспериментальный метод спектроскопии тонкой структуры расширенного рентгеновского поглощения
3.3 Применение спектров тонкой структуры рентгеновского поглощения
упражнение
Глава 4 Анализ передачи электронной микроскопии
4.1 Структура и принцип работы электронного микроскопа просвечивания
4.2 Подготовка образца
4.3 Теория формирования дифракционных пятен и основных операций визуализации
4.4 Теория визуализации визуализации электронного производного визуализации
4.5 Введение в электронный микроскоп высокого разрешения
4.6 Применение просвечивающей электронной микроскопии в материалостике
Упражнение
Глава 5 Сканирующий электронный микроскоп и анализ электронных зондов
5.1 Сканирующая электронная микроскопия
5.2 Электронная микроскопия зонда
Упражнение
Глава 6 Сканирующая туннельная микроскопия и атомная силовая микроскопия
6.1 Сканирующий туннельный микроскоп
6.2 Атомно -силовой микроскоп
Упражнение
Глава 7 Анализ фотоэлектронной спектроскопии
7.1 Энергетический спектр рентгеновского фотоэлектрона
7.2 УФ -фотоэлектронный энергетический спектр
Упражнение
Глава 8 Анализ электронного спектра шнека
8.1 Основные принципы
8.2 Основные устройства и экспериментальные методы
8.3 Пример приложения
8.4 Характеристики и ограничения метода AES
Упражнение
Глава 9 Анализ атомного спектра
9.1 Анализ спектра атомного излучения
9.2 Анализ спектра атомного поглощения
9.3 Анализ атомной флуоресцентной спектроскопии
Упражнение
Глава 10 Анализ молекулярной спектроскопии
Глава 11 Анализ рамановской спектроскопии
Глава 12 Анализ ядерного магнитно -резонансного спектра
Глава 13 Анализ электронного спинового резонанса
Глава 14 Анализ спектра Mussbor
Глава 15 Тепловой анализ
Рекомендации
Введение в содержание:
  Эта книга представляет собой учебник, запланированный Руководящим комитетом Министерства образования и инженерии, и составлен в соответствии с новыми требованиями преподавания материаловедения и инженерии в высших учебных заведениях в новую эру.
  Эта книга систематически и кратко объясняет основные принципы, процессы обнаружения и технологии обработки современных основных технологий и обнаружения материалов.Книга содержит 15 глав, в том числе: обзор технологии анализа материалов и обнаружения, дифракционного анализа рентгеновского излучения, расширенного анализа тонкой структурной структуры рентгеновского излучения, микроскопии просвечивания, сканирующей электронной микроскопии и анализа зонга Электрона, сканирующей туннельной микроскопии и атомной силы Микроскопический анализ, фотоэлектронная спектроскопия, электронная спектроскопия шнека, атомная спектроскопия, молекулярная спектроскопия, спектроскопия комбинационной раманов, ядерная магнитно -резонансная спектроскопия, спектроскопия электронного спинового резонанса, спектроскопия Муссбор, термическое анализ.
  В дополнение к фокусированию на базовых знаниях, эта книга также вводит применение различных технологий обнаружения и стремится ввести компьютерный анализ в технологию анализа материалов и технологии обнаружения.
  Эта книга может быть использована в качестве учебной книги для студентов и аспирантов научных и инженерных университетов, а также может использоваться в качестве справочника для научных исследователей, инженерного и технического персонала и менеджеров связанных специалистов.