Анализ материалов Технология тестирования Qi Haiqun Peking University 9787301195338
Цена: 444руб. (¥21)
Артикул: 596502506818
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:香泉书海图书专营
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥28592руб.
¥45951руб.
¥ 54 41.25872руб.
¥52.51 110руб.
|   [Введение] | |
| Эта книга написана на основе обучения бакалавриата -таланты.«Анализ материалов и технология тестирования» основана на способности анализировать и тестировать технологию. Анализ внешнего вида и т. Д. Экспериментальные методы и экземпляры применения.Кроме того, «Анализ материалов и технология тестирования» также кратко ввели общий анализ и методы испытаний, такие как анализ тепла и анализ энергетического спектра. Эта книга может быть использована в качестве анализа и тестирования технического учебника для обычных высших учебных заведений и высших профессиональных колледжей. |
|   Основная информация о продукте | |
| Заголовок: |   |
| Автор: |   |
| Цены: | 28 |
| Номер ISBN: | 9787301195338 |
| Издательство: |   Peking University Press |
|   другая справочная информация(Принимая фактический объект) | ||
|   украшение:Оплата в мягкой обложке |   открытая книга:16 | язык: |
|   время публикации:Октябрь 2011 |   Версия:1 |   страница:197 |
|   время печати:2011-10-1 |   раздел:1 | &Nbsp; слова:297000 |
|   каталог] | |
| Введение Глава 1 природа x -ray 1.1 Суть x -ray 1.2 генерация спектра x -ray и x -ray 1.2.1 генерация x -ray 1.2.2 x -ray спектр 1.3 Взаимодействие между x -rays и материалом 1.3.1 Поглощение x -Ray 1.3.2 Sanda of x -ray 1,4 x -ray источник и метод испытаний 1.4.1 x -ray источник 1.4.2 Метод испытаний дифракции x -Ray 1.5 Защита от x -rays упражнение Глава 2 x -Теория дифракции |