[Подлинное пятно] Метод тестирования неорганического метода неметаллического тестирования материала для повторного управления методом испытаний неорганических неметаллических материалов Yang Nanru Yang Nanru Wuhan Университет Технологического университета Press 9787562901624
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
【Основная информация】
Книга   имя: метод испытания неорганических неметальных материалов (Re -Extraction)
Конечно   цена: 32,50 юань
делать  
Издательское агентство: Университет Технологии Университета Университета Технологии
Версия: август 1990 г. издание 1
Индийский: январь 2019 г.(Индия -второй может быть обновлена в любое время, чтобы получить реальную вещь!)
ISBN: 9787562901624
Страница: 364
Количество слов: 580 тысяч слов
Книга: 16
Сумка: Тихий океан
【краткое введение】
Эта книга одобрена редакторами неорганических неметальных материалов профессиональных учебных материалов для неорганических неметальных материалов.
В этой книге есть семь глав.Введите физические принципы дифракционного анализа x, электронный микроанализ, тепловой анализ, тепловой анализ, спектр вибрации, оптоэлектронический спектр, спектр мускурга, хроматография и другие методы испытаний, функция и применение инструментов.
В дополнение к учебнику по бакалавриату колледжа, эта книга также может быть использована в качестве справочника для научного и технологического персонала и аспирантов, занимающихся исследованиями материаловедения.
【Оглавление】
Глава 1 x -Ray Дифракционная анализ
Раздел 1 x -Ray Physical Foundation
Во втором квартале
Раздел 3 x -Ray дифракционные геометрические условия
Раздел 4 Интенсивность дифракционного луча x -Ray
Раздел 5 Метод исследования кристалла кристаллического
Раздел 6 Метод исследования поликристалла
Метод дифракции Раздела VII
Раздел восьмой анализ фазы x -ray
Раздел 9 параметров Crystal Telk
Раздел 10 Применение дифракционного анализа x -Ray в других аспектах
ГЛАВА 2 Электронный микро -анализ
Раздел 1 Электронный оптический фундамент
Раздел 2 Взаимодействие между электроникой и твердыми веществами
Версия раздела III Электронный микроализа
Раздел 4 Сканирование электронного анализа
Раздел 5 Электронный зонд X -Ray Micro Analysis
Раздел 6 Анализ Электронный микроскоп
Раздел 7 Применение электронного микро -анализа в неорганическом неметальном материалости
Глава III Анализ тепла
Раздел 1. Обзор
Раздел 2 Анализ приданого бара
Раздел 3 Тепловой анализ
Метод теплового расширения Раздела 4
Раздел 5 Другие методы анализа тепла
Глава 4 спектр вибрации
Раздел 1 Основной принцип спектра вибрации
Во втором разделе инфракрасного света и инфракрасного спектра
Раздел 3 Инфракрасное освещение мясо
Раздел 4 Технология инфракрасных спектральных экспериментов
Раздел 5 Лазерный спектр ламана
Раздел 6 Применение спектра вибрации в исследовании материалов
Глава 5 АНАЛИЗ СВЕТА ЭЛЕКТРОНИКА
Раздел 1. Обзор
Раздел 2 Основной принцип спектра легкой электроники
Раздел III Оптическая электроника Экспериментальная технология
Раздел 4 Применение спектра оптической электроники
Раздел 5 Электронного спектра upche
Глава 6 Мусбургский эффект
Раздел 1 Мусбургский эффект Физический фундамент
Раздел 2 Параметры Мусбурги
Раздел 3 Мусбургский спектрометр
Раздел 4 Экспериментальный метод
Раздел 5 Применение приложения и пример
Глава VII приложение Davity
Раздел 1 Введение в различную хроматографию
Раздел 2 Тримерная технология силицидации
Применение хроматографии раздела III в области силиката
Приложение 1 Порошок метод дифракционных точек
Приложение 2 Элементные физические свойства
Приложение 3 K серии линии логотипа серии длины волны, предела поглощения и напряжения стимуляции
Приложение 4 Коэффициент ослабления качества элементарного качества
Приложение 5 Фактор атомного рассеяния'