Новый подлинный конвертер A-D с высоким разрешением с высоким разрешением (преобразование A-D. Модель-цифровое преобразование. ADC.DFT. Глубокие субмикронные CMOS) (голландский) Амир?Ziajo // heai?Пиенда?Dejewaz
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
- Автор:(Голландия) Амир? Ziayo // Хосе? Пинеда? Dejevez
- Письмо,:(Голландия) Амир? Ziayo // Хосе? Пинеда? DejevezПереводить
- Фрагментация:Простое украшение
- Цены:79.0
- ISBN:9787111589037
- Издательство:Машиностроительная промышленность Пресса
- формат:**
- Язык:Китайский
- Количество страниц:232
- Внешний номер:1201673967
- Издание:1
ПРЕДИСЛОВИЕ ПРЕДИСЛОВИЯ Оригинальная книга Аббревиация Глоссарий Символ физического количества Глава 1 Введение 11.1 Система преобразования A-D 11.2 Краткое обсуждение текущего анализа проектирования и отладки. Параллельный конвейер A-D преобразователь 122.1.4 Сравнение реализации преобразователя A-D 132.2 Дизайн конвертера A-D Низкий напряжение 162.3 Модуль преобразователя A-D 212.3.1 S/H212.3.2 Оп-AMP 242.3.3 Comparator Multi-Stept Multi-Spept Nevertep NoNEPEPTEPTEPTEPTEPTER 333.1. A-D преобразователь 363.3 Временной схема схемы S/H 393.3.33. 693.6 Экспериментальные результаты 763.7 Сводка 80 Глава 4 Тестирование многоэп-A-D преобразователя 824.1 Моделирование квазистатического тестирования структуры ATPG824.1.1. DFT1004.2.2 Пример применения Пример применения 1054,3 Генерация встроенного возбуждения для BIST 113 4.3.1 Топология непрерывной и дискретной цепи времени 1144.3.2 Проектирование непрерывного и дискретного генератора форм волн 1234,4 Комментарий к встроенной концепции самопроверки 1314.5 Случайный анализ Debicicron CMOS Reliable Design Summare 1364.1.1. 144 ГЛАВА 5 Отладка многоэтапного конвертера A-D преобразователя 1465.1 Концепция сенсорной сети 1465.1.1 Стратегия наблюдения 1475.1.2 Интегрированный датчик 1495.1.3 Ограничение принятия решения и применение 1525,1,4 Дизайн схемы DLPM 1555.1.5. 1665.3 Отладка многоэтапного A-D Converter 1685.3.1 Стандарт качества 1685.3.3. Метод оценки 1695,4 DFT Полная доступность для многоэтапного преобразователя 1735.4.1. 1915.7.2 Результаты, применяемые в результате отладки и калибровки конвертеров A-D 1955.8. Приложение B 208B.1 Измерение гистограммы нелинейного преобразователя A-D с использованием синусоидальных волн 208B.2 Средняя квадратная ошибка 210B.3 Неопределенность измерения 211 Ссылки 213
В этой книге автор описывает ценные примеры этих инноваций и дает людям возможность увидеть свои преимущества при применении к разработке конвертеров с аналоговым в цифровой (A-D) (ADC) с высоким разрешением. Более конкретно, что читатели могут обнаружить, что основным вкладом этой книги являются: проектирование многоэтапных преобразователей A-D с использованием переработки и калибровки сигналов, вывод и реализации технологии DFT (дизайн измерения) для наблюдения близости и контролируемости этих преобразователей, метод и дизайн сенсорных сет генераторы для тестирования на уровне пластины.
Автор: (Гербия) Амир? Ziayo // Хосе? Пинеда? Dejevez Amir&Бык; Амир Зжаджо и Хез&Бык; Пипида&Бык; dejewaz (ДжосÉ Pineda de Gyvez) является известным исследователем в исследовательской лаборатории FMB и исследовательском институте полупроводниковых корпораций NXP и университетских учреждениях в области низкой мощности и тестирования. Понимание, проектирование и отладка. Необходимая ссылка.