Учебное пособие по технологиям передачи конвертера с высоким разрешением с высоким разрешением A-D A-D преобразователь-цифру
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
Основная информация
Название: Низкое мощное.
Цена: 79,00 юань
Автор: [作] Ал&миддот;Амир Зьяджо Хосе&Middot; Pieneda&миддот;Дейвез
Пресса: Machinery Industry Press
Дата публикации: 2018-03-01
ISBN: 9787111589037
Переплет: в мягкой обложке, идеальный переплет.
Открыто: 16
Оглавление
Переводчик
Оригинальный заказ
Стерильный
Физическое количество символа
Благотворительность 1
1.1 Система преобразования A-D 1
1.2 Разговор о текущем анализе практики дизайна и отладки 4
1.3 Мотор 7
1.4 Состав контента этой книги 8
ГЛАВА A-D Преобразование 9
2.1 Выбор высокоскоростной архитектуры конвертеров с высоким разрешением 9
2.1.1 многоэтапный конвертер A-D 9
2.1.2 Трубопровод A-D преобразователь
2.1.3 Параллельный трубопровод A-D преобразователь 12
2.1.4 Сравнение реализации преобразователя A-D 13
2.2 Комментарии конструкции конвертера с низким напряжением.
2.3 Модуль преобразователя A-D 21
2.3.1 S/H21
2.3.2 Вычислительный усилитель 24
2.3.3 Сравнение блокировки 27
2.4 Конвертер A-D: Резюме 31
Глава 3 Дизайн многоэтапного конвертера A-D 33
3.1 Многоэтапная архитектура преобразователя A-D 33
3.2 Идеальные многоэтапные меры конструкции конвертера A-D 36
3.3 Передняя схема S/H Стражного перекрестка 39
3.3.1 Время эротической архитектуры 40
3.3.2 Сопоставление единиц S/H 44
3.3.3 Дизайн схемы 49
3.4 Многоэтапный конструкция конвертера A-D 53
3.4.1 Грубая количественная оценка 53
3.4.2 тонкое количественное определение 58
3.5 Промежуточный дизайн и калибровка 67
3.5.1.
3.5.2 остаточный усилитель 69
3.6 Экспериментальные результаты 76
3.7 Резюме 80
Глава 4 Многоэтапный тест преобразователя A-D 82
4.1 Моделирование ATPG82 квазистатического структурного теста
4.1.1 Определение стратегии тестирования 83
4.1.2 Линейная модель разлома на основе квазистатического напряжения узла 84
4.1.3 Стандарт принятия решений и оптимизация стимуляции тестирования 92
4.2 Проектирование тестируемых концепций 98
4.2.1 Цепочка сканирования мощности DFT0
4.2.2 Пример приложения 5
4.3 Производство вдохновения для Bist Films 113
4.3.1 Непрерывная и дискретная топология времени 114
4.3.2 Проектирование непрерывного и дискретного времени генерации формы волны 123
4.4 Прокомментируйте концепцию встроенного самооценка 131
4.5 Анализ Shenya CMOS Процесс Процесс надежной конструкции схемы 136
4.5.1 MNA136, используемый для анализа варианта процесса
4.5.2 MNA138 анализа шума
4.5.3 Пример приложения 140
4.6 Xiaobian 144
Глава 5 Многоэтапный конвертер A-D 146
5.1 Концепция сенсорной сети 146
5.1.1 Стратегия наблюдения 147
5.1.2 Интегрированный датчик 149
5.1.3 Окно и ограничение заявки 152
5.1.4 DLPM CUSTER DEAST 155
5.1.5 Датчик температуры 160
5.2 Оценка изменений в процессе 163 шаблона.
5.2.1 Ожидаемый алгоритм 163
5.2.2 Оценка лимита машины 166
5.3 Многоэтапная отладка на уровне устройства A-D 168
5.3.1 Стандарт качества 168
5.3.2 Метод оценки 169
5.4 DFT используется для многоэтажного конвертера. 173
5.4.1 Блок контроля тестирования 177
5.4.2 Блок управления тестированием моделирования 178
5.5 ВРЕМЯ ПЕРЕМЕРИТЬ СИСТЕМА.
5.6 Калибровка перспективы 184
5.7 Экспериментальные результаты 187
5.7.1 Тестовое окно A-D Сгенерация/обновление результатов приложения 191
5.7.2. Абкугирование отладки и калибровки.
5.8 Резюме 202
Глава 6 Заключение и предложения 203
6.1 Результаты 203
6.2 Рекомендация и будущее исследование 204
Приложение 205
Приложение A 205
A.1 время не соответствует 205
A.2 смещение не соответствует 206
A.3 прирост не соответствует 207
A.4 полоса пропускания не соответствует 207
A.5 Общее выражение 208
Приложение B 208
B.1 Используйте синусоидальную волновую конверсионера линейного в линейную измерение гистограммы 208
B.2 Ошибка квадрата выравнивания 2
B.3 Измерение неопределенности 2111
Ссылка 213