8 (905) 200-03-37 Владивосток
с 09:00 до 19:00
CHN - 1.14 руб. Сайт - 21.13 руб.

A-D преобразователя с низким энергопотреблением и высоким разрешением (преобразование A-D. Модель-цифровое преобразование. ADC.DFT. Глубокие субмикронные CMOS) (голландский) Амир?Ziajo // heai?Конвертер A-D с высоким низким мощным высоким разрешением высокого разрешения

Цена: 1 336руб.    (¥63.2)
Артикул: 567585368728

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао Описание товара
Продавец:辽宁人民出版社图书专营店
Адрес:Пекин
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥ 380 291.86 166руб.
¥ 78 56.241 189руб.
¥791 670руб.
¥29613руб.

A-D с низким мощным преобразователем A-D (A-D Conversion.

сделать   автор:(Голландский) Амир?Ziajo // heai?Пиенда?Книга Derjewaz Song Tingting //?Переводчик
решительный  Цена:79
из&энсп; версия&энсп; агентство:Машиностроительная промышленность Пресса
Дата публикации:01 февраля 2018 г.
страница  Количество:232
установить  Рамка:Простое украшение
ISBN:9787111589037
Рекомендация главного редактора

Преобразователь A-D является обычно используемым устройством для конструкции аппаратной схемы. Важно понимать и правильно использовать преобразователь A-D.Эта книга представляет системную структуру конвертера A-D с высоким разрешением, проектирование, тестирование и отладка многоэтапного конвертера A-D, а также предоставляет теоретические и методы для проектирования и преобразования Application A-D.

Каталог
●Заказ переводчика Оригинал Символ воспроизведения книги. Физические количественные символы уплотнения 11.1 Система преобразования A-D 11.2 Разговор о текущем анализе проектирования и ввода в эксплуатацию 41.3 Мотивация 71.4 Эта книга. Выберите 92.1.1 Многоэтапный конвертер A-D 92.1. Конвертер A-D 122.1.4 Сравнение реализации преобразователя A-D Архитектура преобразователя A-D 333.2 Неидеальные многоэтапные меры проекта для A-D преобразователя 363.3 Пропустить время передней части S/H Схема 393.3.1. Конструкция преобразователя 533.4.1 Грубая количественная оценка 533.4.2 ATPG824.1.1 Определение стратегии тестирования 834.1.2 На основе квазистатических узлов, основанных на квазистатических узлах. Модель линейной разлома метода напряжения 844.1.3 Стандарты принятия решений и оптимизация стимуляции тестов 924.2 Концепция концепции восприятия 984.2.1. 2.2 Экземпляр приложения 1054.3 Производство 1134.3.1 Непрерывная и дискретная временная цепь, используемая в TOP BIST TOP 1144.3.2 Непрерывное и дискретное проектирование формы сигнала времени 1234.4 Комментарий к концепции встроенного самостоятельного 1314,5 Deep Micr Дизайн схемы 1364.5.1 Для случайного MNA1364.5.2 Анализ шума Случайный анализ анализа мутаций процесса MNA1384.5.3 Пример применения 1404.6 Глава. и ограничение применения 1525.1.4 Конструкция схемы схемы DLPM 1555.1.5 Датчик температуры температуры температура 1605,2 Изменения процесса на уровне MIDILE. Оценки 1635.2.1 Exourage Preferred Algorithm 1635.2.2 Оценка векторной машины 1665.3 Многоэтапный конвертер отладки 1685.3.11 Стандарт качества 1685.3.2 Метод оценки 1695.4 DFT для многоэтапного преобразователя Полная доступаемость 1735.4.1. Обзор результатов 2036.2 Рекомендуемое и будущее исследование 204 Приложение 205A.1 Время не соответствует 205A.2 Сопоставление 207A.5 Общее выражение 208 Приложение B 208B.1. Измерение нелинейного гистограммы A-D A-D 210B Ошибка металла 210B. .3 Неопределенность измерения 211 Ссылка 213 213
Содержание пунктирное

Введение в контент

В этой книге автор излагает эти ценные примеры инноваций и дает людям возможность увидеть свои преимущества при применении разработки конвертера модели D (A-D) с высоким разрешением (AD) (ADC).Более конкретно, что читатели могут обнаружить, что основной вклад этой книги заключается в следующем: конструкция обработки сигнала и калибровка использования времени переплетенного времени, конструкция многоэтапного преобразователя A-D, а также тесное наблюдение и контролируемое DFT (тестируемый Для этих преобразователей (тестируемый и контролируемый сексуальный дизайн) метод и конструкция сенсорной сети, которые могут распознавать изменения в параметрах процесса, рекомендации алгоритма, в которых используются небольшие образцы, которые будут использоваться в небольших образцах, и развитие тестового режима Генератор, используемый для тестирования чипа.

Об авторе

(Голландский) Амир?Ziajo // heai?Пиенда?Книга Derjewaz Song Tingting //?Переводчик

Амир&Бык; Амир Зжаджо и Хез&Бык; Пипида&Бык; dejewaz (ДжосÉ Pineda de Gyvez) является известным исследователем в исследовательской лаборатории FMB и исследовательском институте полупроводниковых корпораций NXP и университетских учреждениях в области низкой мощности и тестирования. Понимание, проектирование и отладка. Необходимая ссылка.