8 (905) 200-03-37 Владивосток
с 09:00 до 19:00
CHN - 1.14 руб. Сайт - 17.98 руб.

Сканирующая электронная микроскопия \ Энергетический принцип спектра и технологии специального анализа подробный в твердом переплете, основные принципы и специальные анализы технических принципов и применение сканирующей электронной микроскопии/Энергетический спектрометр x -Ray

Цена: 1 663руб.    (¥92.47)
Артикул: 623132872679

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао Описание товара
Продавец:浙江出版集团图书专营店
Адрес:Чжэцзян
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥33.81608руб.
¥109.961 978руб.
¥32.16579руб.
¥28.23508руб.
  • Информация о товаре
  • Фотографии
Основная информация
наименование товара:Сканирующий электронный микроскоп \ Принцип энергетического спектра и технология специального анализа (Fine)формат:32
Автор:Редактор: Рен Сяоминг | Ответственный редактор: Li Yan // Gan JiulinКоличество страниц:
Цены:128Опубликованная дата:2020-06-01
Номер ISBN:9787122362346Время печати:2020-06-01
Издательство:химическая индустрияВерсия:1
Типы продукта:книгиИндийский:1
Об авторе:
Рен Сяоминг, Университет Хубей, доцент, доктор философии, заместитель высокой школы, он был обязан в Бюро по науке и технике Ухана. ПолемОсновное внимание на изучении вертикальных полимерных материалов, таких как полиэтилен, эпоксидная смола и другие функциональные полимерные материалы. Управляемые высококвалификационные запуска сканирующие электронные микроскопы, спектрометры оптоэлектроники x -Ray, диффузоры x -Ray и т. Д. Большой точный прибор.
Краткое содержание:
«Сканирующая электронная микроскопия/энергетический спектр и технология специального анализа» подробно описывает две части основных принципов и специального анализа технические принципы сканирующего электронного микроскопии/x -Ray -спектрометра и применение. объяснил из принципов к навыкам тестирования.
    Эта книга может быть использована в качестве справочного учебника для химии, химикатов, материалов, биологии и соответствующих специальностей в колледжах и университетах.

......

Оглавление:
Основной принцип сканирующей электронной микроскопии/Энергетический спектрометр x -Ray
Глава 1 Обзор 3
1.1 Сканирование и развитие электронного микроскопа 3 3
1.2 Типы и характеристики сканирующего электронного микроскопа 4
1.2.1 Сканирующий туннельный микроскоп (STM) 5
1.2.2 Двойной сканирующий электронный микроскоп (FIB) 6
1.2.3 Сканирующий электронный микроскоп окружающей среды (ESEM) 7
1.2.4 Cryo-Sem 8
1.2.5 Сканирование передаваемого электронного микроскопа (STEM) 9
1.3 Тенденция развития сканирующего электронного микроскопа 10

Глава 2 Принцип, структура и технология применения сканирования электронного микроскопа 13
2.1 Основные знания 13
2.1.1 Резолюция 13
2.1.2 Скорость увеличения 15
2.1.3 Моделирование 17
2.1.4 Электронный балок.
2.2 Взаимодействие между электронными лучами и материалом 26
2.2.1 Разброс 26
2.2.2. Основной сигнал визуализации 28
2.3 Сканирующая структура электронного микроскопа и принцип работы 35
2.3.1 Принцип работы электронного микроскопа 35
2.3.2 Сканирующая структура электронного микроскопа 37
2.3.3 Подкладка изображений и причина 49
2.4 Качество изображения и основные факторы влияния 57
2.4.1 Композиция точки точки изображения высокого качества 57
2.4.2 Качество изображения влияет на факторы——Параметр прибора 59
2.4.3 Качество изображения влияет на факторы——Операция технологии 62
2.5 Сканирующая электронная микроскопия Технология приготовления образца 66

Глава 3 Принципы, структура и анализ технологии энергетического спектрометра X -Ray 72
3.1 генерация и применение x -rays 72
3.2 Принципы энергетических спектрометров и принципов работы 78
3.3 Основные концепции в тесте энергии 82
3.3.1 Геометрическое местоположение 82
3.3.2 Параметры программного обеспечения 85
3.3.3 Индикаторы производительности прибора 87
3.4 Анализ энергетического спектрометра 89
3.5 Качественный и количественный анализ энергетического спектрометра 91
3.5.1 Качественный анализ 91
3.5.2 Метод количественного анализа и коррекции 96
3.5.3 Другие фиксированные методы количественной коррекции 104
3.6 Метод анализа энергетического спектрометра 107
3.7 Выбор основного параметра анализа энергетического спектра 111
3.7.1 Выбор напряжения ускорения 111
3.7.2 Выбор функции x -rays 113
3.7.3 Луч 114
3.8 Энергетический спектр фиксированного количества ошибка анализа и предела обнаружения 115
3.8.1 Источник ошибок 115
3.8.2 Статистическая ошибка подсчета импульсов 117
3.8.3 Detectective Limited (CL) 118

Следующая статья Специальной анализ технических принципов и приложений
Глава 4 Низко -напряженная технология анализа визуализации 123
4.1 Технология электронного микроскопа с низким содержанием напряжения прорывается на 124
4.1.1 Ограничение технологии визуализации низкого напряжения 124
4.1.2 Прорыв технологии визуализации низкого напряжения 125
4.2 Применение и принципы технологии визуализации с низким уровнем напряжения 130
4.2.1 Применение визуализации на непроводящих материалах 130
4.2.2 Применение визуализации на тепловом материале 138
4.2.3 Применение визуализации в площади поверхности материала 142

Глава 5 Технология анализа энергетического спектра высокого разрешения.
5.1 Технический обзор 147
5.2 Низкое напряжение Улучшение технологии пространственного разрешения энергетического спектра 148
5.2.1 Основные принципы 148
5.2.2 Характеристики анализа энергетического спектра низкого уровня.
5.2.3 Типичный анализ случая 154
5.3 Метод элемента для улучшения технологии пространственного разрешения энергетического спектра 160
5.3.1 Основные принципы 162
5.3.2 Характерные характеристики анализа 164
5.3.3 Анализ классического применения 167

Глава 6 Проблема с электричеством лотоса и технология решений 172
6.1 Голландское явление Описание 172
6.2 Механизм живого эффекта 172
6.3 Влияние электрического воздействия на качество изображения 175
6.4 Случаи и случаи применения проблем с мощностью нагрузки 175
6.4.1 Своевременное устранение избыточного заряда 177
6.4.2 Динамический баланс текущего доступа 181
6.4.3 -Электрический нечувствительный сигнал изображения или выбор устройства 186

Глава 7 Технология анализа с низкой вакуумной визуализацией 194
7.1 низкий вакуумный режим 194
7.2 Аппаратное обеспечение, оснащенное низким вакуумным режимом 195
7.3 Применение технологии низкой вакуумной визуализации 198
7.3.1 Прямое наблюдение за непроводящей выборкой 198
7.3.2 Оригинальное наблюдение за биологическими образцами 201

Глава 8 Высокая живописная и трехмерная технология анализа визуализации 203
8.1 Технический обзор 203
8.2 Основная теория 204
8.3 Эффекты параметров и применение. 206 глубины изображения 206
8.3.1 Влияние рабочего расстояния на глубину изображения изображения 206
8.3.2 Влияние света материала на глубину изображения 207
8,4 S Трехмерная технология визуализации 208

Глава 9 Технология обнаружения и анализа частиц 210
9.1 Принципы работы 210
9.2 Метод метода 212
9.3 Метод испытаний и процесс 212
9.4 Анализ случая 213

Глава 0 Технология анализа энергетического спектра специальных образцов 221
10.1 Технология анализа энергетического спектрометра и весовых элементов 221
10.2 Технология количественного анализа грубых образцов 224
10.3 Технология анализа энергетического спектра пика пика, аналогичная образцу элемента 226
10.4 Технология анализа спектра частиц нано -нано -труда 228
10.5 Ошибка анализа энергии в условиях низкого вакуума 232

Ссылки 234

......

Цвет страница: