Подлинная поликристаллическая x -Ray Дифракционная технология и применение x -Ray Базовый метод дифракционного анализа x -Ray Применение анализа и идентификации материала твердого материала и идентификация
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
Основная информация
Название: поликристаллическая технология и применение дифракционной технологии и применения
Цена: 88,00 Юань
Автор: Цзян Хаохуа
Издательство: Chemical Industry Press
Дата публикации: 2014-07-01
ISBN: 9787122191458
Количество слов:
Номер страницы:
Версия:
Переплет: мягкая обложка
Открыто: 16
Товарный вес:
Краткое содержание
Эта книга систематически вводит принципы, инструменты, методы и применение поликристаллической технологии дифракционной дифракции X -Ray.Содержание книги постепенно. Полицисталлический дифракционный инструмент фокусируется на том, как получить его подробно, экспериментальные технические задачи, такие как правильные данные дифракции, как оценить достоверность дифракционных экспериментальных данных и рабочего статуса инструмента.После этого фактическое применение поликристаллических дифракционных данных в различных аспектах было введено в трех аспектах: анализ фазы, расстояние между поверхностью кристалла или параметры кристаллов и стандарт метода испытаний.
Эта книга конденсировала исследование и разработки и применение применения X -Ray Instruments более 50 лет. Поля.
об авторе
Похожего контента пока нет
Оглавление
1. Введение
Метод анализа дифракции 0,1 x -Ray является основным экспериментальным методом для изучения микро -структуры материала
0.2 Характер материала определяется его структурой
0.3 Применение полисталлического (последнего) метода дифракционного анализа x -Ray
Рекомендации
Глава 1 x -ray Основы
1,1x Обзор собственности на радио
1,2 x -Ray Generation
1,3x RIE Spectrum
1.3.1 Непрерывный спектр
1.3.2 Спектр функций
1.3.3 Условия труда из луча
1.4 Снижение материала до x -rays
1.4.1 Формула лица
1.4.2 Коэффициент поглощения качества
1.4.3 x -ray фотоэлектрический эффект
1.4.4 Применение поглощающих свойств в технологии эксперимента x -Ray
1,5x Ray Scattering
1.5.1 Связанное рассеяние
1.5.2 Связанное рассеяние
1,6x технология обнаружения прочности лучей
1.6.1 Флуоресцентная доска
1.6.2 Метод фотографии
1.6.3 Одно -точечный детектор
1.6.4 Детектор твердого массива
1.6.5 -BT Датчик, пропорциональный для противодействия
1.6.6 Правление визуализации
1.6.7 Цифровая X -Ray Imaging Technology
1,7x защита лучей
Рекомендации
Глава 2 Хрустальный Фонд
2.1 Основные знания кристаллической и кристаллической структуры
2.1.1 Основные особенности кристаллов
2.1.2 Структура точечной линии
2.1.3 Симметрия и кристаллические серии кристаллов
2.1.4 Кристаллические клетки
2.1.5 Группа Crystal Learning Space и Point Group
2.1.6 Форма кристалла
2.1.7 Фактические кристаллы и дефекты решетки
2.2 доры в кристаллах на x -rays
2.2.1 Дифракционное направление
2.2.2 Интенсивность дифракции
2.2.3 Пик дифракционных лучей
2.3 ход квази -кристаллов
2.3.1 Конкретные кристаллы
2.3.2 Dording of Quasi -Crystals
Рекомендации
Глава 3 Поликристаллинный х -стена
3,1x Ray Difruction Instrainting Superaint
3.1.1 Две поликристаллическая дифракционная геометрия
3.1.2 Метод записи лучевой поликристаллической дифракции
3.1.3x Ray Source
3.1.4 Монохический метод
3.1.5x Ray Optical Element
3,2X Луч поликристаллическая дифракционная инструмент
3.2.1 x -ray поликристаллическая дифракционная композиция прибора
3.2.2x Gray Generator
3.2.3 Угольный счетчик
3.2.4x система измерения интенсивности лучей
3.2.5 Система анализа дифракционных данных и дифракционных данных
3.2.6 Приложение таблицы образцов
3.3 база данных и программного обеспечения поликристаллической дифракции и программного обеспечения
Рекомендации
Глава 4 Приобретение дифракционной диаграммы x -Ray
4.1 Подготовка и производство образца
4.1.1 Требования к гранулярности образца
4.1.2 Подготовка плоскости испытаний образца
4.1.3 Толщина испытательной пленки образца
4.1.4.
4.1.5 Пример резюме
4.2 Сбор данных
4.2.1 Выбор длина волн эксперимента
4.2.2 Выбор условий сканирования
4.2.3 О сводном и примере выбора экспериментальных условий
4.3 Предварительная проверка последней дифракционной диаграммы
Рекомендации
Глава 5 x -Ray Difraction Data
5.1 Избранные данные дифракционной диаграммы x -Ray
5.1.1 Конец x -ray дифракционные данные
5.1.2 Определение положения дифракционного пика
5.1.3 Представление прочности дифракционного пика
5.1.4 Пиковые данные дифракционных лучей
5.2 Извлечение данных пиковой и пиковой силы в конце дифракции
5.2.1 Цифры гладкие
5.2.2 Вычет фона и идентификация слабых пиков
5.2.3K&альфа;
5.2.4 Метод сглаживания второго порядок автоматически считывает положение пика и в то же время определяет пиковую высокую и пиковую ширину
5.2.5 ПЕКТИЧЕСКИЙ ПРОЦЕСС ПРОЦЕССА ОБРАБЕНИЯ
Рекомендации
Глава 6 Неопределенность данных дифракции x -Ray
6.1 Неопределенность измерения
6.1.1 Метод оценки результатов революции
6.1.2 Неопределенность измерения и ошибка измерения
6.2 Системная ошибка и коррекция измерения угла дифракционного угла
6.2.1 Ошибка измерения погружения в погружение, введенная геометрическим фактором
6.2.2 Угловое измерение Механическая ошибка измерительного измерителя углового измерителя
6.2.3 Ошибка измерения Dordental, введенная физическими факторами
6.2.4 Поправка к экспериментальному значению угла дифракции в конце угла дифракции
6.3 Измерение неопределенности дифракционного угла дифракционного прибора
6.3.1 Анализ измерения угла дифракционного угла дифракционного прибора
6.3.2 Оценка стандарта угла дифракционного угла измерения дифракционного прибора
6.3.3 Оценка синтеза дифракционного угла Стандартное измерение измерения дифракционного прибора
6.4 Ошибка измерения и неопределенность измерения дифракционной дифракционной прочности дифракции
6.4.1 Обзор
6.4.2 Критическая потеря и коррекция
6.4.3x Измерение значения измерения радиоинтенсивности
6.4.4 В конце экспериментального значения измерения дифракционной силы, оценка неопределенной силы
6.4.5 В конце работы данных о силе дифракции передача стандартной неопределенности
6.5 Индекс качества данных данных о дифракционной карте x -Ray
6.6. Принятие и принятие поликристаллического дифракционного прибора
6.6.1 Предложение по вопросу
6.6.2 Стандартные вещества для дифракционных угловых школ
6.6.3 Стандартные вещества для калибровки интенсивности дифракции
6.6.4 Оценка показателей эффективности дифракционного инструмента
6.6.5 Контроль качества состояния дифракционного прибора
Рекомендации
Глава 7 Анализ X -Ray Dives Performance
7.1 Что это“”
7.2 Что это“”
7.3 Основа для метода
7.3.1 Принципы
7.3.2 База данных базы данных в конце дифракционной диаграммы
7.3.3pdf2 Содержание дифракционной карты
7.4 Обзор и сопоставление ссылки на дифракционную диаграмму
7.4.1 Ссылка и сопоставление дифракционной диаграммы
7.4.2 Методы диаграммы и соотношения карт
7.4.3 Суждение как“ матч&Rdquo;
7.5 "MDI Jade" рентгеновская диаграмма обработки
7.5.1 Общие шаги на основе пикового S/M
7.5.2 Выход извлечения свойств
7.6 Неопределенность выводов в поисках
7.7 Пример соответствия предприятия
7.8 Оценка неизвестных этапов
7.8.1 Два случая
7.8.2 Общие этапы определения структуры объектной структуры
7.8.3 В конце индикатора дифракционной диаграммы
7.8.4 Неизвестный тип кристаллической структуры или определение космической группы
7.8.5 Создание новой стандартной карты данных дифракционных данных
7.9 Аномальная дифракционная легенда
Рекомендации
Глава 8 X -RAY Дифракционная анализ
8.1 Взаимосвязь между силой дифракции и составом собственности
8.2 Метод прочности отношения
8.2.1 Внутреннее уравнение ставки, сила отношения (значение k) и метод внутреннего стандарта
8.2.2 Уравнение иностранного стандарта и метод иностранного стандарта
8.2.3 Справочный и стандартный эталонный материал для базы данных о справочнике
8.2.4 Пример приложения
8.3 Нет стандартного метода
8.3.1 Основные принципы методов
8.3 .2
8.3.3 Метод внутреннего стандарта безда
8.3.4 БЕСПЛАТНЫЙ способ развеять
8.4 иностранные предложения, чтобы устранить приблизительно отсутствие стандартного метода количественной оценки
8.4.1 Принципы ненормальных стандартов для аномальных заявок
8.4.2 Количественные параметры (KSJ,Μ*JS) измерение
8.4.3.
8.4.4 иностранные заявки на устранение метода постепенного увеличения
8.5 Специальный метод
8.5.1 Поглощающий и дифракционный метод прямого количественного анализа
8.5.2 ТРАКИ ПРЕДВАРИТЕЛЬНЫЙ МЕТОД АНАЛИЗАЦИИ
8.5.3Compton Scattering School FA -Rectification
8.6 Анализ дифракционных соединений с полным спектром
8.6.1 Теоретическая основа метода анализа дифракционных соединений
8.6.2 Технические точки для подгонки полной подгонки спектра
8.6.3 Требуется полный метод количественного анализа полного спектра
8.6.4 Стандартный спектр стандартного спектра объекта Материала Фазы требует количественного метода анализа
8.7 Стратегия анализа и построение дифракционных количественных методов
8.7.1 Анализ концепции стратегии
8.7.2 Метод контракта на внутренний торгов
8.7.3 Закон об устранении иностранных ставок
8.7.4 Метод дисперсии -дифференциации -дифференциации
8.7.5 Образец того же метода расщепления
8.7.6 Различная фаза разных этапов
8.7.7 Метод вложения и значения C
8.7.8 Теоретический расчет k метод значения
8.8 Dordent Количественные экспериментальные технические точки
8.8.1 Общие меры предосторожности
8.8.2 Система образцов
8.8.3 Выбор экспериментальных условий
8.8.4 Дифракционный пик&Ldquo; Jing”
8.8.5 Метод подгонки полного спектра для основных требований экспериментов
8.9 Извлечение неопределенности и метода дифракционного количественного анализа
8.9.1 Неопределенность результатов выходного анализа дифракционного объекта
8.9.2 Предел обнаружения этапов
8. Количественная кристаллическая фаза
8..1 Оценка кристаллических свойств
8..2 Измерение дифференциального метода содержания кристаллической фазы
8. 3 кристаллиальное измерение
Рекомендации
Глава 9 Мгновенное тестирование и применение параметров Cynestes
9.1 Общее рассмотрение
9.1.1 Выберите высокие дифракционные пики
9.1.2 Методы измерения положения пика
9.1.3 Выбор метода дифракционной диаграммы
9.2 Устранение системной ошибки
9.2.1 Графический метод внешнего толчка
9.2.2 Ке Хенг Сяоли Метод
Строка 9.2.3
9.2.4 Метод внутреннего стандарта
9.3 Фактическое измерение параметров кристаллических ячеек
9.3.1 Прибор и его корректировка и проверка
9.3.2 Система выборки
9.3.3 Измерение
9.3.4 Расчет результатов
9.4 Применение параметров кристаллических ячеек или данных между кристаллом
9.4.1 Исследование типа твердого типа раствора
9.4.2 Определение твердого раствора, качество тех же минеральных ингредиентов слона
Познание типа 9,3x, соотношение молекулярного сита типа Y типа SIO2/Al2O3
9.4.4 Определение степени твердого раствора
9.4.5 Характеристики упорядоченного состояния и структуры расстройства кристалла
9.4.6 Измерьте соответствующие данные кристаллических свойств
9.4.7 Измерение макро -напряжения в металлических материалах
Рекомендации
Глава главы пикового анализа и применения
.1 Обзор
.2 Фактический пик дифракционных лучей и“ правда”
.
.2.2 Математическое представление пикового измерения дифракционных лучей
.2.3 Другие факторы, которые влияют на измеренный пик и его поправки
.3 Отображение доставки лучей дифракции
.3.1 Используйте Fourier для преобразования свертки решения
.3.2 Используйте метод итерации для решения свертки
.4 Анализ пикового вещания
.4.1 Реальные точки в форме пика в ширину
.4.2 Связь между двумя широкими эффектами
.4.3 Несколько методов анализа пиковой общеизведения
.5 Метод функции аппроксимации анализа обшивки в форме пика
.5.1 Шаг анализа метода приблизительной функции
.5.2 Метод приблизительной функции ищет реальную ширину пиковых точек
.5.3 Выбор приблизительной функции приблизительной функции в форме пика
.6 Применение данных о доставке дифракционных лучей
.6.1 Остановка формулы Шеррера
.6.2 Измерение микро -стресса
.6.3 Аналогично, два широких эффекта существуют одновременно
.6.4 "MDI Jade"“” опция
.6.5“”
.6.6 Доставка глинистых минеральных структурных дефектов
Рекомендации
Приложение
Приложение 1Μ
Приложение 2 Общие коэффициенты поглощения минерального качества&му;*(кук&альфа;)
Приложение 3 Отношение между расстоянием расстояния кристаллической поверхности и параметрами точечной матрицы
Приложение 4 различная (конечная) дифракционная сила
Приложение 5x Difraction Difraction Analysis of характерной длины волны и связанных с ними данных x -Ray Tube
Приложение 6 Cube Crystal Crystal SLR Индекс дифракции
Приложение 7SI Последняя выборка дифракционной дифракции&Системная ошибка
Приложение 8 Дифракционный анализ, обычно используемый для дифракционных данных о эталонных веществах
Приложение 9 Общий минеральный RIR (значение k)
Таблица классификации минеральной структуры приложения глины
Приложение 11 Измерение отчета о неопределенности и представление, эффективность результатов измерения и неопределенность
Приложение 12x Информация о радиоемристалле и ресурсах базы данных Введение
Выбор редактора
«Поликристаллическая технология и применение дифракции и применения» -это краткое изложение исследований и опыта разработок и применения профессора Цзяна Хаохуа, Университета Пекинга более 50 лет. Конец дифракционного анализа работает над отладкой инструмента и улучшению навыков.Сущность