X -ray Анализ наноматериалов второе издание Ченг Гуфенг Ян Чуанжан Х -Рей -Метод Нано -Материал Анализ кристаллологии Базовая хеорея
Цена: 1 311руб. (¥62)
Артикул: 594803708316
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Продавец:三邦永安图书专营店
Адрес:Пекин
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥ 98 73.81 560руб.
¥ 69.8 52.81 116руб.
¥ 12 8.5180руб.
¥ 56 42.8905руб.
