Полицисталлическая x -RAY Дифракционная технология и применение JIANG CHAOHUA POLYCRYSTALLINE X -RAY Дифракция x -Ray Дифракция полисталлиста x -Ray порошок x -Ray Анализ Наука и анализ справочников.
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
наименование товара: | Поликристаллическая технология и применение дифракции и применения дифракции |
Название книги по маркетингу: | X -ray анализ основной входной книги работника |
Автор: | Цзян Чаохуа отредактировал |
Цены: | 88.00 |
Наша цена: | |
Скидка: | |
ISBN: | 978-7-122-19145-8 |
Ключевые слова: | Полизированная дифракция х -срока; |
масса: | 651 грамм |
Издательство: | Химическая промышленность пресса |
формат: | 16 | Фрагментация: | квартира |
Опубликованная дата: | Июль 2014 | Версия: | 1 |
Номер страницы: | 353 | Индийский: | 1 |
«Технология и применение поликристаллической дифракции и применения» -это краткое изложение опыта исследований и применения профессора Цзяна Хаохуа, Университета Пекинга более 50 лет. Фронтальная линия порошковой дифракции работает, чтобы отладить инструмент и улучшить навыки очень полезны.Сущность
Эта книга систематически вводит принципы, инструменты, методы и применение поликристаллической технологии дифракционной дифракции X -Ray.Содержание книги постепенно. Полицисталлический дифракционный инструмент фокусируется на том, как получить его подробно, экспериментальные технические задачи, такие как правильные данные дифракции, как оценить достоверность дифракционных экспериментальных данных и рабочего статуса инструмента.После этого фактическое применение поликристаллических дифракционных данных в различных аспектах было введено в трех аспектах: анализ фазы, расстояние между поверхностью кристалла или параметры кристаллов и стандарт метода испытаний.
Эта книга конденсировала исследование и разработки и применение применения X -Ray Instruments более 50 лет. Поля.
1 Введение 1
Метод анализа дифракционного анализа 0,1X -основной экспериментальный метод изучения микро -структуры материала 1
0.2 Характер материала определяется его структурой 2
0,3 Применение поликристаллического (порошка) x -Ray Дифракционный метод.
Ссылки 6
Глава 1 x -ray Основы 7
1.1x Радио свойства Обзор 7
1,2 x -ray Generation 10
1,3X радиоспектр 11
1.3.1 Непрерывный спектр 12
1.3.2 Спектр функций 13
1.3.3 Условия труда лучей трубки 16
1.4 Освобождение материала на x -rays 17
1.4.1 Формула 17
1.4.2 Коэффициент поглощения качества 18
1.4.3 x -ray фотоэлектрический эффект 20
1.4.4 Применение поглощающих свойств в технологии x -Ray Experiment 21
1,5x Ray Scattering 22
1.5.1 Связанное рассеяние 22
1.5.2 Не связанное рассеяние 23
1,6x технология обнаружения силы луча 24
1.6.1 Флуоресцентная доска 24
1.6.2 Метод фотографии 25
1.6.3 Одно -точечный детектор 25
1.6.4 Детектор твердого массива 29
1.6.5 -be -be -Пропорционально счетчику 30
1.6.6 Правление визуализации 30
1.6.7 Digital X -Ray Imaging Technology 31
1,7x Ray защита 32
Ссылки 33
Глава 2 Crystal Foundation 34
2.1 Основные знания кристаллической и кристаллической структуры 34
2.1.1 Основные особенности Crystal 34
2.1.2 точечная структура батареи 36
2.1.3 Симметрия и кристалл 40 кристалла 40
2.1.4 Кристалл 43
2.1.5 Группа Crystal Learning Space и Dot Group 46
2.1.6 Форма кристалла 47
2.1.7 Фактический дефект кристаллов и решетки 48
2.2 Погружения кристаллов на x -rays 54
2.2.1 Дифракционное направление 55
2.2.2 Сила дифракции 58
2.2.3 Пиковая форма дифракционных лучей 61
2.3 Дордент конкретных кристаллов 64
2.3.1 Специфический кристалл 64
2.3.2 Dordent of Quasi -Crystals 65
Ссылка 65
Глава 3 поликристаллический х -дифракционный прибор 66
3,1X Рэя дифракционного прибора Сводка оборудования 66
3.1.1 Две поликристаллическая дифракционная геометрия 67
3.1.2 Метод записи лучевой поликристаллической дифракции 69
3.1.3x Радио -источник 75
3.1.4 Монохический метод 79
3.1.5x Ray Optical Element 82
3,2x Луч поликристаллическая дифракционная прибор 83
3.2.1 x -ray поликристаллическая дифракционная композиция 83
3.2.2x Gray Generator 83
3.2.3 Угольный счетчик 84
3.2.4x Система записи прочности луча 90
3.2.5 Система анализа сбора данных дифракционных приборов и дифракционных данных.
3.2.6 Приложение образца Таблица 95
3.3 База данных и программное обеспечение 95 поликристаллических порошков и программное обеспечение 95
Ссылка 96
Глава 4 Pink x -Ray Дифракционная диаграмма Get 98
4.1 Подготовка и производство образца 98
4.1.1 Требования к размер частицы пудры 99
4.1.2 Приготовление образца испытательной пленки плоскости 100
4.1.3 Тестовая толщина тестовой пленки 101
4.1.4 Навыки выборки 102
4.1.5 Сводка выборки 104
4.2 Сбор данных 105
4.2.1 Выбор экспериментальной длины волны 105
4.2.2 Выбор условий сканирования 106
4.2.3 Об резюме и примере выбора экспериментальных условий 110
4.3 Предварительная проверка дифракционной диаграммы порошковой дифракции 112
Ссылки 114
Глава 5 Pink x -Ray Data 115
5.1 Избранные данные порошковой дифракционной диаграммы 115
5.1.1 Порошок x -Ray Difruction Data 115
5.1.2 Определение местоположения пика дифракции 116
5.1.3 Экспрессия прочности дифракционного пика 118
5.1.4 Пиковые данные дифракционных лучей 119
5.2 Извлечение данных пика и пиковой прочности порошковой дифракции и пиковой прочности 120
5.2.1 Гладкий рисунок 121
5.2.2 Вычет фона и идентификация слабых пиков 123
5.2.3K&альфа;
5.2.4 Метод сглаживания второго порядок автоматически считывает положение пика и в то же время определяет пиковую высокую и пиковую ширину 128
5.2.5 Поток пиковой процедуры обработки 130
Ссылки 131
Глава 6 Неопределенность розовых х -срезок данных 132
6.1 Неопределенность измерения 132
6.1.1 Революция метода оценки результатов измерения 132
6.1.2 Ошибка измерения и ошибка измерения 134
6.2 Системная ошибка и коррекция измерения угла дифракционного угла 137
6.2.1 Ошибка измерения Dordent, введенная геометрическим фактором 137
6.2.2 МЕХАНИЧЕСКАЯ ОШИБКА УГОЛОВОГО УГОЛОВА
6.2.3 Ошибка измерения процветающих углов, введенная физическими факторами 141
6.2.4 Коррекция экспериментального значения угла порошковой дифракции 143
6.3 Измерение Неопределенности дифракционного угла прибора порошкового дифракции 147
6.3.1 Анализ измерения угла дифракции дифракционного прибора 147
6.3.2 Оценка стандарта угла дифракционного угла дифракционного прибора.
6.3.3 Оценка синтеза дифракционного угла Стандартное измерение измерения дифракционного прибора 150
6.4 Ошибка измерения дифракционной дифракционной прочности и ее неопределенности измерения 150
6.4.1 Обзор 150
6.4.2 Критическая потеря и ее коррекция 151
6.4.3x измерение значения интенсивности луча
6.4.4 Порошковая дифракционная прочность на экспериментальное значение измерения измеренное оценка прочности 155
6.4.5 Моптинг в расчете данных интеграции данных порошка 156
6.5 Порошок x -Ray Дифракционная диаграмма Индекс качества качества 157
6.6 Принятие, оценка и обычная проверка поликристаллических дифракционных инструментов 158 158
6.6.1 Предложение вопроса 158
6.6.2 Стандартный материал для дифракционной угловой школы 159
6.6.3 Прочность на удар интенсивности дифракции 161
6.6.4 Оценка индекса производительности дифракционного прибора 163
6.6.5 Контроль качества управляющего штата бегуна 165
Ссылка 166
Глава 7 Анализ X -Ray Дифракционной фазы фиксированного анализа 168
7.1 Что это“”168
7.2 Что это“”169
7.3 Метод метода 170
7.3.1 Принципы 170
7.3.2 База данных о приготовлении дифракции порошковой дифракции 171
7.3.3pdf 粉 2 Содержание порошковой дифракционной карты 173
7.4 Обзор и сопоставление эталонных дифракционных диаграмм 177
7.4.1 Ссылка на поиск и соответствие дифракционной диаграммы 177
7.4.2 Методы диаграммы и соотношения карт 178
7.4.3 Суждение как“ матч&Rdquo;
7.5 "MDI Jade" рентгеновская диаграмма Поиск обработки Сопоставление 188
7.5.1 Пик на основе S/M Общий шаг 188
7.5.2 Выход из поиска недвижимости 192
7.6 Неопределенность извлечения 配 Соответствующие выводы 195
7.7 PRIX -поиск 配 Пример соответствующего примера 197
7.8 Оценка неизвестной
7.8.1 две ситуации 201 201
7.8.2 Общий шаг 202
7.8.3 Индикатор дифракционной диаграммы порошковой дифракции 203
7.8.4 Неизвестный тип кристаллической структуры или определение космической группы 205
7.8.5 Создание новой стандартной дифракционной карты данных 206
7.9 Аномальная дифракционная легенда 206
Ссылки 208
Глава 8 x -Ray Дифракция Motalizing Analysis 209 209
8.1 Взаимосвязь между силой дифракции и составом собственности 209 209
8.2 Сравнение метода силы 211
8.2.1 Внутреннее уравнение ставки, прочность отношения (значение k) и метод внутреннего стандарта 211
8.2.2 Метод иностранного стандартного и иностранного предложения 213
8.2.3 Справочный и стандартный эталонный материал 214
8.2.4 Пример приложения 217
8.3 Метод образец BEAR -BERE 219
8.3.1 Основной принцип метода 219
8.3 .2
8.3.3 Метод выборки внутренних стандартов.
8.3.4 Метод рассеивания бездеяния в выборке 224
8.4 Иностранная ставка, чтобы устранить, как ни один стандартный метод количественного определения выборки 226
8.4.1 Принципы ненормальных стандартов для устранения иностранных заявок 226
8.4.2 Количественные параметры (KSJ,Μ*JS) Измерение 229
8.4.3 Анализ выборки выборки 231
8.4.4 Иностранные стандарты для устранения постепенного увеличения 234
8.5 Специальный метод 234
8.5.1. Поглощение 射 Способный метод Прямой количественного анализа доставки 234
8.5.2 Метод прямых количественного анализа трассировки 235
8.5.3compton Sanda Land Correction Dharma 237
8.6 Метод анализа дифракционных соединений.
8.6.1 Теоретическая основа метода анализа дифракционных соединений с полным спектром 237
8.6.2 Техническая точка подгонки всплеска дифракционного распределения 238
8.6.3 Требуется полный метод количественного анализа с полным спектром данных известных данных кристаллической структуры 240
8.6.4 Стандартный спектр стандартного спектра физической фазы материала Материальной фазы физического состояния 241
8.7 Стратегия анализа и построение дифракционных количественных методов 242
8.7.1 Концепция стратегии анализа 242
8.7.2 Закон о внутренних торгах 244
8.7.3 Закон о расчете 244 иностранных стандартов 244
8.7.4 Закон о выболе
8.7.
8.7.6 Различная фаза разных фаз с разными фазами 246
8.7.7 Метод вложения и значения C 246
8.7.8 Теоретический расчет k Метод значения 247
8.8 Dordent Количественные экспериментальные технические точки 247
8.8.1 Общие меры предосторожности 248
8.8.2 Система выборки 249
8.8.3 Выбор экспериментальных условий 250
8.8.4 Дифракционный пик&Ldquo; Jing”
8.8.5 Метод подгонки полного спектра для основных требований эксперимента 251
8.9 Извлечение неопределенности и метода дифракционного количественного анализа Результаты 254
8.9.1 Неопределенность результатов анализа с фиксированной величиной дифракционного объекта 254
8.9.2 Предел обнаружения собственности 257
8.10 Количественная количественная оценка кристаллической фазы AM 259
8.10.1 Оценка некристаллического содержимого фазы 259
8.10.2 Измерение дифференциального метода некристаллического фазового содержания 260
8.10.3 Измерение кристалличности 261
Ссылки 264
Глава 9 Мгновенное тестирование параметров Cynestes и его применения 266
9.1 Общее рассмотрение 266
9.1.1 Выберите высокий дифракционный пик 266
9.1.2 Метод пикового уровня 268
9.1.3 Выбор метода дифракционной диаграммы 268
9.2 Устранение системной ошибки 269
9.2.1 Дисциплинарный метод внешнего толчка 269
9.2.2 Минимальный два -мультиплинационный метод Кехенга 270
Строка 9.2.3
9.2.4 Метод внутренней ставки 273
9.3 Фактическое измерение точных параметров кристаллической ячейки 273
9.3.1 Прибор и его корректировка и проверка 274
9.3.2 Система выборки 274
9.3.3 Измерение 274
9.3.4 Расчет результатов 275
9.4 Применение точных параметров кристаллических ячеек или данных расстояния кристаллов 275
9.4.1 Исследование типа твердого раствора 275
9.4.2 Определение твердого раствора, качество тех же слонов минеральных ингредиентов 277
Minding 280 из 9.4.3x тип, y -тип молекулярного сита Sio2/Al2O3 280
9.4.4 Определение твердого раствора 282
9.4.5 Диалог порядка кристаллического порядка беспорядочной структуры 283
9.4.6 Измерьте соответствующие данные кристаллических свойств 285
9.4.7 Измерение макро -напряжения в металлических материалах 285
Ссылка 287
Глава 10 Пик анализа и применения 288
10.1 Обзор 288
10.2 Измеренный пик дифракционных лучей и“ правда”
10.2.1 Концепция свертки 289
10.2.2 Математика пика дифракционных лучей 291
10.2.3 Другие факторы, влияющие на измеренный пик и его поправку 291
10.3 Извлечение истинного пика дифракционных лучей 292
10.3.1 Используйте Fourier, чтобы изменить том 292 решения.
10.3.2 Используйте метод итерации для решения тома 294
10.4 Анализ пиковых торгов 294
10.4.1 Точки True Peak Ширина 294
10.4.2 Взаимосвязь между двумя широкими эффектами 295
10.4.3 Несколько методов расширяющего анализа в форме пиковых форм 296
10.5 Метод приблизительной функции расширяющего анализа в форме пиковых форм 297
10.5.1. Шаг анализа метода применения приложения. Метод 297
10.5.2 Применение метода функции, чтобы увидеть истинную ширину пиковых точек 297
10.5.3 Выбор приблизительной функции пиковой формы 299
10.6 Применение динамических пиковых данных 300
10.6.1 Исследование Scherrer Formula 301
10.6.2 Измерение микро -стресса 302
10.6.3 Аналогично с двумя широкими эффектами одновременно 303
10.6.4 "MDI Jade"“”
10.6.5“”307
10.6.6 Природа глиняных минеральных структурных дефектов 313
Ссылка 321
Приложение 323
Приложение 1Μ
Приложение 2 Общие коэффициенты поглощения минерального качества&му;*(кук&альфа;) 324
Приложение 3 Связь между расстоянием расстояния кристаллической поверхности и параметрами матрицы точек 325
Приложение 4 поликристаллическая (порошковая) дифракционная прочность 326
Приложение 5x Difraction Analysis hearticistic Ludge длины волны x -Ray -трубки и связанных с ними данных 330
Приложение 6 Cube Crystal Dives 331
Приложение 7SI Порошок образца образца дифракционной дифракции угловой&Системная ошибка 332
Приложение 8 Дифракционное анализ обычно используется дифракционные данные о справочном материале 333
Приложение 9 Общий минеральный RIR (k Значение) 343
Приложение 10 Клавля минеральной структуры Классификация Таблица 344
Приложение 11 Измерение отчета о неопределенности и представление, эффективность результатов измерения и неопределенность 345
Приложение 12x Информация о радиоемристалле и ресурсах базы данных Введение 347
Технология поликристаллической дифракции является важным методом для анализа и тестирования композиции, структуры и существования кристаллических веществ.Он имеет следующие характеристики: Во -первых, количество образцов невелико, легко подготовить, а объем приложений широкий; Образец. популяризировать приложения.Следовательно, метод испытаний на поликристаллические дифракции широко используется при анализе промышленных продуктов, химических продуктов, фармацевтических материалов, плат на рамках, механических сварных суставов, геологических отборов, цементного бетона и т. Д., А даже состав и доля пигментных картин такие аспекты, как сбор доказательств.В области химии, физики, минералов, геологии, материальной науки, биологии, фармацевтической, археологии,…&Hellip;
Профессор Цзян Чаохуа -старший профессор в Университете Пекинга. специалист.
В 1980 -х годах профессор Цзян написал «Полистал -христальный дифракционный инструмент экспериментального инструмента» в качестве учебного учебника для пользователей поликристаллических дифракционных метров.Поскольку это лаконично, практично и не является большим, это приветствует читатели.Энтузиасты также превратили его в файлы формата PDF, которые широко распространены в Интернете.На этот раз, в соответствии с заветом прессы химической промышленности, профессор Цзян, на основе вышеуказанной основы принципов краткого, несчастного, практичного и разумного. была добавлена.
Содержание книги постепенно. Как экспериментальные технические проблемы, такие как правильные данные дифракции, как оценить достоверность дифракционных экспериментальных данных и рабочего статуса инструмента.После этого фактическое применение поликристаллических дифракционных данных в различных аспектах было углублено в трех аспектах: фазовый анализ, расстояние между поверхностью кристалла или тестирование параметров кристалла и пиковой анализ.
Это хорошая книга, которая представляет поликристаллические дифракционные эксперименты.Книга не только фокусируется на четкой и точной теоретической концепции, но и обращает внимание на то, как достичь и достичь цели анализа и тестирования с помощью метода методов инструментов (включая связанное программное обеспечение).Книга также подразумевает такую основную линию: Научное открытие исходит из надежных экспериментальных данных.Например, в книге рассказывается небольшая история о обнаружении материала спонтанной односторонней децентрализации (предел обнаружения главы 8 по дифракционному анализу) очень вдохновляет.
Я рад видеть рукопись автора.
Чжоу Гунду
16 июня 2013 года в Zhongguanyuan, Peking University
никто