2 Объемные схемы Рекомендации+Технология тестирования цепных чипов.
Цена: 2 177руб. (¥103)
Артикул: 649503590106
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:中译图书专营店
Адрес:Цзянсу
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥531 120руб.
¥60.81 285руб.
¥ 79 59.21 251руб.
¥ 49.5 39.6837руб.
Руководство по тестированию интегрированной схемы 99 9787111683926
Поделившись своим собственным опытом, автор предоставляет читателям справочник для интегрированного тестирования схем на основе инженерной практики.Эта книга разделена на пять глав и 10 глав для представления концепций и знаний о полупроводниковых интегрированных тестировании схемы в реальной проверке чипов и массовом производстве.Статья 1 состоит из главы 1 и главы 2, начиная с процесса тестирования и оборудования, связанного с тестированием, и стремится дать читателям целостную концепцию интегрированного тестирования схемы.Вторая статья состоит из главах с 3 по 5, которые в основном объясняют принцип автоматического тестирования полупроводниковых интегрированных цепей. Третья статья начинает входить в часть инженерной практики.Эта статья состоит из интегрированного чипа оперативного усилителя в главе 6, а также принципов тестирования чипов управления питанием и методов реализации в главе 7. Благодаря изучению этой статьи читатели могут овладеть методами тестирования общих аналоговых чипов.Четвертая статья является конкретной практикой цифровых интегрированных цепей.Мы выбрали чипы памяти (глава 8) и микроконтроллерные чипы (глава 9) с высоким спросом на рынке, чтобы сообщить читателям, как использовать свои тестовые проекты и связанные с соответствующими ресурсами тестирования.Глава 10, глава 5, позволяет читателям понять реализацию смешанного сигнального тестирования и заложить прочную основу для последующего продвижения.
Основная аудитория этой книги - читатели, которые хотят или собираются стать инженерами по тестированию интегрированных цепи. Мы предполагаем, что читатели изучили соответствующие основные курсы, в основном включающие анализ схемы, технологию аналоговой электроники, технологию цифровой электроники, сигналы и системы, цифровые сигналы и языки компьютерного программирования.Благодаря изучению этой книги, читатели будут иметь общую концепцию полупроводникового интегрированного тестирования схемы и смогут освоить практические методы, которые могут быть напрямую применены к работе, и использовать «навыки» для входа в «дао».Эта книга также имеет определенное справочное значение для технических и техников, инженеров и инженеров -разработчиков интегрированных цепи, которые занимались полупроводниковыми интегрированными цепьными тестированием.
Технология интегрированных цепных чипов 35 9787560659541Эта книга составлена на основе фактических потребностей в работе в микроэлектронике и в сочетании с многолетним опытом работы автора и опытом обучения на переднем крае.Книга подробно рассказывает о принципах тестирования, методах тестирования и написании тестовых программ различных интегрированных чипов схемы, которые распространены в отрасли, включая различные тестирование комбинированной/височной логической схемы, тестирование чипов ADC/DAC, тестирование память/микроконтроллер, интегрированное тестирование чипов операции по операциям/тестированию питания и т. Д.
Эта книга может использоваться в качестве учебника по основному курсу для специалиста по технологии микроэлектроники в высших профессиональных колледжах, а также может использоваться в качестве справочного учебника для подготовки и обучения конкуренции «Интегрированная разработка и применение» национального конкурса навыков профессионального колледжа.
