8 (905) 200-03-37 Владивосток
с 09:00 до 19:00

Применение разработки и дизайна библиотеки библиотеки ввода/выводов интерфейсов и схем ESD

Цена: 729руб.    (¥34.5)
Артикул: 582767396122

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао Описание товара
Продавец:当当网官方旗舰店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥222.54 702руб.
¥26.07551руб.
¥39.21829руб.
¥76.21 611руб.

1Эта книга посвящена сочетанию теории и практики, чтобы предоставить большое количество практических инженерных примеров.Весь процесс библиотеки ввода/вывода в дизайне чипа всегда проходит через процесс упаковки.2Эта книга позволяет инженерам понимать внутреннюю ситуацию библиотеки ввода -вывода, тем самым способствуя хорошему взаимосвязи библиотеки ввода/вывода и других ссылок на процесс проектирования.3Эта книга подходит для читателей с разными уровнями китайского и английского языка.

Основная информация
Название продукта:Применение разработки и дизайна библиотеки библиотеки ввода/выводов интерфейсов и схем ESDформат:16
Автор:Ван ГулиЦены:69.00
Номер ISBN:9787115487063Время публикации:2018-10-01
Издательство:Люди после прессыВремя печати:2018-09-01
Издание:1Время печати:1
Глава 1 Введение в библиотеку ввода/вывода……………………………………………………………… 1

1.1 Характеристики библиотеки ввода/вывода…………………………………………………………… 1

1.2 Процесс проектирования библиотеки ввода/вывода……………………………………………………… 4

1.3 Характеристики исследовательского процесса……………………………………………………………… 5

1.4 Процедура проектирования………………………………………………………………… 6

1.5 Тестовый модуль ESD………………………………………………………………… 7

Глава 2 ESD—&Mdash; первая стена библиотеки ввода/вывода………………………………………… 11

2.1 Феномен ESD……………………………………………………………………… 11

2.2 Феномен разрушения ESD в полупроводниковых чипах……………………………………………… 12

2.3 Надежность схемы—— модель теста ESD……………………………………………… 16

2.4 Тестовая комбинация стандартной тестовой модели ESD……………………………………………… 25

2.5 Ошибка тестирования стандартной тестовой модели ESD……………………………………………… 28

2.6 Конструкция и макет устройства ESD ввода/ вывода…………………………………… 29

Рекомендации……………………………………………………………………………… 75

Глава 3 Кольцо блокировки и защиты………………………………………………………………… 77

3.1 Механизм 的 Lock…………………………………………………………………… 77

3.2 Методы предотвращения замков……………………………………………………………… 79

3.3 Метод испытаний………………………………………………………… 88

Рекомендации……………………………………………………………………………… 94

Глава 4 Дизайн схемы ввода/вывода………………………………………………………………… 95

4.1 Общие спецификации данных ввода/вывода и дизайн данных………………………………………………… 95

4.2 Явление линии передачи…………………………………………………………………… 96

4.3 Выходной модуль GPIO……………………………………………………………… 100

4.4 Входной модуль GPIO……………………………………………………………… 114

4.5 Входной сигнал моделирования………………………………………………………………… 117

Оглавление

Применение разработки и дизайна библиотеки библиотеки ввода/выводов интерфейсов и схем ESD

4.6 Гибридное входное/ выходное схема напряжения…………………………………………………… 120

4.7 Схема ввода/ выходной схемы в схеме устойчивости высокого напряжения………………………………………… 125

4.8 макет выходной цепи……………………………………………………………… 128

4.9 Распределение шнуров питания ввода/вывода……………………………………………………………… 132

4.10 Положение и расположение подушки для связи…………………………………………………… 134

4.11 Решения в области зоны ядра и решения площади прокладки……………………………………… 136

Рекомендации……………………………………………………………………………… 139

Глава 5 высокая скорость ввода/вывода………………………………………………………………… 141

5.1 компенсация схемы……………………………………………………………………… 141

5.2 DDR…………………………………………………………………………… 146

5,3 LVD…………………………………………………………………………… 150

Рекомендации……………………………………………………………………………… 154

Глава 6 Модель библиотеки ввода/вывода…………………………………………………………… 155

6.1 Комплексная модель……………………………………………………………………… 155

6.2 модель поведения……………………………………………………………………… 169

6.3 IBIS MODEL……………………………………………………………………… 171

Рекомендации……………………………………………………………………………… 181

Заключение…………………………………………………………………………………… 183......Сочетание теории и практики этой книги сначала вводит библиотеку ввода/вывода, включая функции и процессы проектирования библиотеки ввода/вывода в дизайне чипа; затем представил феномен ESD в схеме ввода/вывода, метод испытания и ESD Метод испытаний и метод испытаний ESD и метод испытаний ESD и метод испытаний ESD и метод испытаний ESD и метод испытаний ESD и метод испытаний ESD и метод испытаний и метод испытаний ESD и метод испытаний ESD и тест ESD Метод и метод ESD Проектирование различных модулей защиты ESD; затем фокусируется на явлении разблокировки, функциональной схеме GPIO и методе компенсации цепи высокоскоростной схемы ввода -вывода и т. Д.;......Ван Гули, степень магистра в области информационной инженерии в Пекинском университете постов и телекоммуникаций в 1999 году.С тех пор такие компании, как Huawei, China, GMD Fokus, Берлин, Германия и Microchip (Microchip), занимались коммуникационной электроникой и полупроводниковыми чипами.В области полупроводника автор лично занимался проектированием и разработкой различных полупроводниковых инженерных проектов, и использовал много процессов производства полупроводников.