8 (905) 200-03-37 Владивосток
с 09:00 до 19:00
CHN - 1.14 руб. Сайт - 21.13 руб.

Фонд синхронного радиационного применения Сюй Пенсшо, Пан Гоцян отредактировал подлинные книги baku.com

Цена: 514руб.    (¥24.29)
Артикул: 524867440322
Доставка по Китаю (НЕ включена в цену):
106 руб. (¥5)

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао Описание товара
Продавец:博库旗舰店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥42.07889руб.
¥15.15321руб.
¥18.95401руб.
¥92.631 958руб.
  • Информация о товаре
  • Фотографии
Голова добавить .jpgПК END .JPGДобавить .jpg в хвост
Основная информация:
наименование товара:Основы применения синхронного излучения (качественный учебник Университета науки и техники Китая)формат:4
Автор:Xu Pengshou // Пан ГоцянКоличество страниц:
Цены:35Опубликованная дата:2009-01-01
Номер ISBN:9787312023095Время печати:2009-01-01
Издательство:Университет науки и технологий КитаяВерсия:1
Типы продукта:книгиИндийский:1
Оглавление:
Общая последовательность
Предисловие
Глава *** Введение в синхронное излучение фотоэлектронной спектроскопии
1.1 Основные концепции квантовой механики
1.1.1 Двойственность волновой частиц микроскопических частиц
1.1.2 волновая функция
1.1.3 Уравнение Шредингера
1.1.4 Уровень атомной энергии водорода и волновая функция
1.1.5 Теория статического возмущения
1.1.6, содержащее во времени возмущение и квантовый переход
1.2 Основные знания теории твердого энергетического пояса
1.2.1 Теорема Блоха
1.2.2 Инвертированная сетка и стрелки волны
1.2.3 Энергетический ремень и энергетический разрыв
1.2.4 Район Бриллуин
1.2.5 Плотность состояния энергии и поверхность Ферми
1.3 Физический процесс фотоэлектрического излучения
1.3.1 Трехступенчатая модель фотоэлектрического возбуждения
1.3.2 Фотоионизация поперечного сечения и глубины выхода электронов
1.3.3 Кривая распределения энергии фотоэлектрона
1.3.4 Сумма сохранения в фотоэлектрической эмиссии
1.3.5 Правила выбора поляризации в фотоэлектрической эмиссии
1.4 Основы фотоэлектронного спектра
1.4.1 Основные принципы фотоэлектронного энергетического спектра
1.4.2 Экспериментальное устройство для фотоэлектронного энергетического спектра
1.5 Технология энергетической спектроскопии синхронного излучения
1.5.1 Фотоэлектронный спектр синхронной радиационной валентной полосы
1.5.2 Фотоэлектронный спектр энергии синхронного излучения.
1.5.3 Рабочий режим синхронного излучения фотоэлектронного спектра
Глава 2 Введение в мягкую рентгеновскую микроскопию и синхронную радиационную литографию
2.1 Основные концепции мягкой рентгеновской микроскопии
2.1.1 Введение
2.1.2 Микроскопия и исследования биологической структуры
2.1.3 Взаимодействие между светом и веществом в мягкой рентгеновской микроскопии
2.2 Основные знания мягкой рентгеновской оптики
2.2.1 преобразование мягких рентгеновских лучей
2.2.2 Отражение мягких рентгеновских лучей
2.2.3 Многослойный рефлектор с мягкой рентгеновской пленкой
2.2.4 Дифракция и полосовый лист мягких рентгеновских лучей
2.3 Мягкая контактная микроскопия рентгеновского излучения
2.3.1 Основные устройства и принципы
2.3.2 мягкий рентгеновский источник для контактной микроскопии
2.3.3 Обнаружение изображений биологических образцов микроскопа
2.3.4 Метод экспериментальной микроскопии мягкой рентгеновской микроскопии
2.3.5 Применение визуализации контактной микроскопии
2.3.6 Разрешение визуализации контактной микроскопии
2.4 Мягкая рентгеновская визуализация
2.4.1 Обычный микроскоп с мягкой рентгеновской визуализацией пропускания
2.4.2 Фазовый контрастный мягкий рентгеновский микроскоп
2.4.3 Сканирование прохождения мягкая рентгеновская микроскопия
2.4.4 Применение мягкого микроскопа визуализации рентгеновских лучей
2.5 Введение в технологию мягкой рентгеновской голографической микроскопии
2.5.1 Основные концепции голографии
2.5.2 Технология мягкой рентгеновской голографической микроскопии
2.5.3 Применение технологии мягкой рентгеновской голографической микроскопии
2.6 Технология рентгеновской литографии синхронного излучения
2.6.1 Введение в литографическую технологию
2.6.2 Основные принципы рентгеновской литографии
2.6.3 Ключевые технологии для рентгеновской литографии синхронного излучения
2.7 Технология LIGA в синхронном излучении
2.7.1 Введение в технологию MEMS и Liga
2.7.2 Основные принципы и процессы технологии LIGA
2.7.3 Применение технологии LLGA
Глава 3 Основы синхронного излучения УФ и инфракрасной спектроскопии
3.1 Оптические свойства твердых тел
3.1.1 Уравнение волн и оптическая постоянная
3.1.2 Сложная диэлектрическая постоянная и поглощение света
3.1.3 Крамерс—Kronig) отношения
3.1.4 Коэффициент поглощения и спектр поглощения
3.1.5 Коэффициент отражения и спектр отражения
3.1.6 Спектр излучения и спектр возбуждения
3.2 Основы сплошного спектра
3.2.1 Спектр поглощения и излучения переходов вопросов
3.2.2 Exciton Spectrum
3.2.3 Спектр примеси и состояния дефекта
3.2.4 Спектр ионов редкоземельных и переходных металлов
3.3 Технология и применение ультрафиолетовой спектроскопии синхронного излучения.
3.3.1 Синхронный радиационный вакуум ультрафиолетовой спектроскопия Экспериментальная технология и устройства
3.3.2 Редкий газовый спектр экситонов
3.3.3 BAF. Прайс-диапазон кристаллов-одноъядерный прыжок полосы
3.3.4 Квантовое масштабирование в спектре редкоземеля
3.4 Введение в синхронную инфракрасную спектроскопию излучения
3.4.1 Основные понятия вибрации решетки
3.4.2 Вибрация решетки и инфракрасное поглощение
3.4.3 Инфракрасное поглощение и плазмон свободных носителей
3.4.4 Технология синхронной радиационной инфракрасной спектроскопии
Глава 4 Основные принципы и применения синхронного излучения рентгеновской дифракции
4.1 Симметрия кристаллической структуры
4.1.1 Периодическая структура и свойства кристаллов
4.1.2 Mot Matrix
4.1.3 Симметричные элементы и кристаллические системы кристаллической структуры
4.1.4 Cell
4.1.5 Группа Crystal Point и космическая группа
4.2 Кинематическая теория рентгеновской дифракции
4.2.1 Уравнение Laue
4.2.2 Уравнение Брэгга
4.2.3 Обратный вектор
4.2.4 Управление кристаллической дифракции и вектор взаимности
4.2.5 Введение в метод сбора монокристаллических дифракционных данных
4.2.6 Интенсивность дифракции и структурные факторы
4.3 Application of synchronous radiation x-ray diffraction
4.3.1 Применение рентгеновского излучения синхронного излучения в биологической макромолекулярной кристаллографии
4.3.2 Синхронное излучение рентгеновского излучения с высоким разрешением
4.3.3 Синхронный радиационный рентгеновский монокристаллический дифракцию высокого разрешения
4.3.4 Применение аномального рассеяния в области материаловедения и определения кристаллической структуры малых молекул
Глава 5 Основы рентгеновского рассеяния
5.1 Диффузное отражение неполных кристаллов
5.1.1 Универсальная формула для интенсивности дифракции рентгеновских лучей неполных кристаллов
5.1.2 Брэгг -отражение средней точечной матрицы
5.1.3 Диффузионное рассеяние, вызванное отклонением от средней точечной матрицы
5.1.4 диффузное дифракционное изображение неполных кристаллов
5.1.5 расстройство смещения и расстройства перестановки
5.2 рентгеновский анализ структуры аморфного материала
5.2.1 Уравнение универсального рентгеновского рассеяния
5.2.2 Функция радиального распределения аморфного вещества (RDF)
5.2.3 Определение функции частичного распределения
5.3 рентгеновское отражение и рассеяние тонких пленок и многослойных пленок
5.3.1 преобразование и отражение рентгеновских лучей на границе раздела
5.3.2 Индекс преломления
5.3.3 Индекс преломления, включая коэффициент поглощения
5.3.4 Формула Снелла и уравнение Френеля в рентгеновской области
5.3.5 рентгеновское отражение равномерного тонкого слоя (пленка)
5.3.6 Звуковая отражательная способность многослойных фильмов
5.3.7 Отражающая способность интерфейса конечного градиента
5.3.8 Общая теория расчета отражательной способности интерфейсов с шероховатостью и поверхностями
Глава 6 Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения
6.1 рентгеновский спектр поглощения
6.1.1 Коэффициент поглощения рентгеновских лучей
6.1.2 Обезвреживание атомов возбуждения
6.1.3 Правила выбора для электронной спектроскопии
6.1.4 Элементные линии и поглощающие края
6.1.5 Квантово-механический расчет коэффициента поглощения рентгеновского излучения изолированных атомов (простая модель)
6.1.6 Квантовая теория мультипольного спонтанного излучения (поглощение) рентгеновского излучения
6.2 тонкая структура рентгеновского поглощения
6.2.1 Физический механизм производства XAFS
6.2.2 Метод измерения рентгеновского поглощения
6.2.3 Экспериментальная станция XAFS и экспериментальная технология
6.3 Экспериментальный метод EXAFS
6.3.1 Физический механизм генерации Exafs
6.3.2 Нормализованная функция EXAFS
6.3.3 Основные теоретические формулы функции EXAFS
6.3.4 Обработка данных EXAFS
6.4 Применение XAFS
6.4.1 Введение
6.4.2 Исследование EXAFS по полупроводниковой нано-микрокристаллической CDTE
6.5 Разработка экспериментальной технологии XAFS
Приложение 1 Квантовая теория рентгеновского рассеяния
Приложение 2 Статистика Гаусса и очки Гаусса
Приложение 3 преобразование Фурье
Приложение 4 функция Dirac

......

Цвет страница:
Краткое содержание:
Эта книга посвящена основным принципам и связанным с этим основным знаниям синхронного излучения, а также включает экспериментальные методы синхронного излучения и их применения в некоторых важных областях. Его содержание разделено на две части: мягкий рентгеновский, вакуумный ультрафиолетовый (включая инфракрасный) и жесткий рентген. Первый включает в себя фотоэлектронную спектроскопию, вакуумную ультрафиолетовую и инфракрасную спектроскопию, мягкую рентгеновскую микроскопию и синхронную радиационную литографию; Последнее включает в себя рентгеновское поглощение, рентгеновскую дифракцию и рассеяние. Поскольку применение синхронного излучения включает в себя базовые знания во многих дисциплинах, учитывая, что многие студенты не изучали эти курсы на своем уровне бакалавриата, эта книга соответствующим образом добавляет некоторые базовые знания квантовой механики, физики твердой, атомной спектроскопии и рентгеновской оптики. Эта книга можно использовать как“Ядерная наука и техника”Общие учебники для аспирантов в других дисциплинах, связанных с синхронным излучением, также могут использоваться в качестве справочников для тех, кто новичок в синхронном излучении.
    

......

Об авторе: