Исследование материалости и методы испытаний 4 издание Zhu Heguo отредактировано юго -восточное университет издательство Crystal Foundation X -Ray Дифракционное анализ передаваемого электронного микроанализа Атомного спектрального изображения с высоким уровнем резоляции.

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао