X -Ray Difraction Technology Crystal Foundation Foundation Foundation X -Ray Дифракционный принцип и экспериментальный метод x -Ray Difraction Technology в материале микроструктуре Анализ Анализ Приложений Материаловая и инженерные материалы

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао