8 (905) 200-03-37 Владивосток
с 09:00 до 19:00
CHN - 1.14 руб. Сайт - 21.13 руб.

Официальный веб -сайт подлинный бесплатный перевод материалов перевод шедевров физики, такого как перевод физики и других известных шедевров, таких как переводы перевода шедевров физики

Цена: 1 564руб.    (¥74)
Артикул: 568791348082

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао Описание товара
Продавец:中国科大出版社旗舰店
Адрес:Аньхой
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥92.31 951руб.
¥ 180 1483 128руб.
¥ 48 38.4812руб.
¥ 78 58.51 237руб.
  • Информация о товаре
  • Фотографии

【Основная информация】

Дата публикации: январь 2017 г.

Слова: 873 тысяча

Пресса: Китайский университет науки и технологии прессы

Номер книги (ISBN): 978-7-312-03749-8

Цена: 99,00 юань              

Номер страницы: 676 (16 Open)

【Особенности и характеристики】

(1)“13 -й пять -летний план”Национальный проект по планированию издательской книги;

(2) том в «Переводе шедевров физики»;

(3) Английская версия опубликована Springer Press.“Новая книга годовой рекомендации”Предметы

(4) Первоначальный автор Брент Фульц и Джеймс Хоу являются профессорами Калифорнийского технологического университета и Вирджинии.

(5) Китайская версия переводится 4 профессора из Университета науки и технологий Китая и Гуанси Университет.

【Об авторе】

Брент⋅Брент Фульц, профессор кафедры прикладной физики и материаловедения, Калифорнийский технологический институт.В 1982 году он получил докторскую степень в Калифорнийском университете в Беркли.За выдающиеся молодые ученые премию президента США и Американское общество электроники, магнетики и фотональных материалов Американского общества TMS.Главный ученый проект Sanjiezhiyuan Широко -углубленный спектрометр и проект программного обеспечения для анализа данных дисперсии эксперимента по рассеянию нейтронов США.Он внес свой вклад в базовое понимание термодинамики материалов с использованием не -эластичного нейтрального рассеяния.

Джеймс⋅Джеймс Хоу, профессор кафедры материаловедения и инженерии в Университете Вирджинии.В 1985 году он получил докторскую степень в Калифорнийском университете в Беркли.Выдающаяся премия президента США, премия президента США, премия по старшему исследователю Гумбольдта Герман и лауреат «Серебряная премия» в области материаловых наук Американского информационного общества материалов.Области исследований включают в себя фазовое изменение высокого разрешения и анализ исследовательских материалов передаваемых электронных микро -микроструктур, структуры и характера фазовой границы.

 

【Введение】

Ву Зикин, профессор Университета науки и техники Китая, докторант и известный ученый в области коагуляции государственной физики, электронного микро -обучения и роста тонкой пленки.Бывший редактор -в журнале «Физики» и заместителем редактора -в «Физике» журнала китайского института физики. Исполнительного директора Китайского общества электронных микро -зеркал и директора Профессионального комитета по физике материалов.Был предпринят ряд национальных проектов по естественным наукам, и в академических журналах было опубликовано более 200 статей в академических журналах дома и за рубежом.Получил первую премию Награды Китая Академии наук о естественных науках, премии Анхюи Университета науки и технологий, Научно -технической премии Китайского анализа и тестовых общественных КомиссияОтредактированные и опубликованные монографии, такие как «рост фильма», «Сплошные физические экспериментальные методы», «Физика и применение микро -анализа» и «Принципы и приложения», а также переведены и опубликованные «современные кристаллы».

Ши Лей, доктор философии в инженерии, инженер.Основными областями исследований являются материальная структура и физические свойства.Опубликовано более 30 связанных статей в международных академических журналах.В настоящее время отдел исследований в области электроопроводной электроскопии с высоким уровнем трансмиссии Китайского университета науки и техники науки и техники в основном отвечает за ежедневную эксплуатацию и анализ и тестирование передаваемого электронного микроскопа, включая сферическую сферу, передаваемую электронным микроскопом и связанное с ним аффилированное оборудование Полем

Он Вей, женщина, профессор и докторская руководитель Школы материаловедения и инженерии Университета Гуанси, неконтролируемых металлических материалов Министерства образования и ее новой технологической лаборатории, руководитель докторантуры, член профессионального комитета по доставке порошка Китайское кристаллическое общество и 10 -й Совет Китайского директора Микроники.В 2000 году он получил докторскую степень в области науки в Университете науки и техники Китая.В основном он участвует в изучении планов, структуры и производительности редкоземельных элементов.Опубликовано более 100 статей в академических журналах дома и за рубежом.

Чжан Июань, профессор, докторский руководитель, эксперт по электронике, долгое время был посвящен изучению микроструктур материалов и материалов в течение длительного времени.Опубликовано более 100 научных работ в академических журналах дома и за рубежом.Выиграл 1 первый приз китайской академии наук о естественных науках и 2 -секундные призы науки и техники китайского анализа и тестовых общества.

【краткое введение】

Первые три главы - это общее введение рассеяния, дифракции и визуализации, а также структура инструментов рентгеновских, ТЭМ и нейтронов.Последующая глава 4 и 5 ввела взаимодействие между электроникой, x -Rays и атомами.Введите коэффициент формы атома в эластичном рассеянии электрона и введите концепцию перекрестного сечения в неэластичном рассеянии электронов.В центре внимания этих трех глав - дифракция, кристаллическая и дифракционная облицовка.В системе учебных программ, которые имеют тенденцию к дифрагированным и микро -обучению, она может дополнительно изменить содержание передовых исследований в главе 4 и в главе 5.

Основной частью этой книги является теория спортивной науки в рамках формулы Лаоса, которую можно использовать для борьбы с кристаллическими материалами, которые постепенно увеличиваются.В главе 8 дифракционная подкладка изображения ПЭМ дефекта с использованием фазовой диаграммы амплитуды фокусируется.В 9 -й главе обработайте дифракционную ширину.Впоследствии, в главе 10, функция Patterson обрабатывала короткие программные явления, горячие рассеяния и аморфные материалы.В главе 11 представлены изображения и моделирование изображений с высоким уровнем резоляции.В главе 12 были введены различные современные и микро -обучающие методы.В главе 13 описывается основное содержание теории динамики электронной дифракции.

После обсуждения эффективной длины освещения и эффективного отклонения динамической теории мы можем как можно больше расширить теорию спортивной теории по направлению электронной дифракции.Мы считаем, что это правильный метод для учебника, потому что теория спорта установила четкую и скоординированную связь между дифракцией и материальными структурами.Например, диаграмма фазовой амплитуды - это практическая фигура, которая объясняет дефектную подкладку и представляет собой инструмент, который может вдохновить новые идеи в лабораторной работе.Мало того, это ценно быть знакомым с преобразованием Фурье в области дифракции и микроэлемента.Преобразование Фурье было предложено перед этой книгой, но его серьезный вычет в главе 5, 6, 8.Глава 9 рассказывает о свертке.Глава 10 представляет функцию Patson.Рекомендуется, чтобы читатели знакомы с преобразованием Фурье, связанным с этой книгой, прежде чем прочитать главу с 11 по 13 высокой оценки ТЭМ и динамической теории.Высокая оценка ТЭМ и динамическая теория требует более высокого уровня математики.

【Оглавление】

Слова переводчика

последовательность

Глава 1 Дифракция и прибор порошков x -Ray

1.1 Дифракция (1)

1,2 x -Ray Generation (10)

1,3x лучевой дифракционный прибор (18)

1,4XRD и детекторы TEM X -RAY (24)

1.5 Данные эксперимента по порошковой дифракции (31)

1.6 РАСПРАВЛЕНИЕ (43)

Упражнение (44)

Ссылки (48)

Глава 2 TEM и ее электронная оптика

2.1 Обзор просвечивающего электронного микроскопа (49)

2.2 Используйте объектив и легкие дорожные карты для работы (53)

2,3 -образный режим работы (57)

2.4 Фактическая ОПТИКА (68)

2.5 Стеклянная линза (73)

2.6 Магнитная линза (78)

2.7 Circicorciexia и другие дефекты (82)

2.8 разрешение (89)

2.9 РАСПРАВЛЕНИЕ (90)

Упражнение (91)

Ссылки (96)

Глава 3 Nongzi San Rap

3.1 рассеяние нейтронов и нейтронов (98)

3.2 Naruts (100)

3.3 Наруйно -порошко -дифракционные приборы (102)

3.4 Фазовая волна (105)

3.5 Прибор с большими структурами (108)

3.6 Не -эластичное рассеяние*(111)

3.7 Эластичное рассеяние*(115)

3.8 Магнитное рассеяние*(116)

3.9 ядерное рассеяние (117)

3.10 чтение развития (118)

Упражнение (119)

Список литературы (120)

Глава 4 San Rap

4.1 волны и рассеяние (122)

4.2 -РАЗРЕЖДЕНИЕ (129)

4.3 Связанное упругое рассеяние (136)

4.4 Расширение чтения (150)

Упражнение (150)

Ссылки (152)

Глава 5 Не -эластическое электронное рассеяние и спектр

5.1 Не -эластическое электронное рассеяние (153)

5.2 Электронный спектр потери энергии (угря) (155)

5.3 Плазменное возбуждение (161)

5.4 Основное волнение (165)

5.5 Энергетический фильтр TEM -визуализация (eftem) (177)

5,6x лучевой энергетический спектр (Eds) (183)

5.7 Количественные редты (191)

5.8 РАСПРАВЛЕНИЕ РАСПРАВЛЕНИЯ (197)

Упражнение (198)

Список литературы (201)

Глава 6 Кристаллическая дифракция

6.1 Суперпозиция атомных волн (203)

6.2 Полярная сетка и условия Лаоса (208)

6.3 Dot Matrix Difraction Base (214)

6.4 Структура химического порядка (221)

6.5 Коэффициент формы кристалла (227)

6.6 Уходящий вектор (параметр отклонения) (234)

6.7 Эвальд Болл (235)

6.8 Район Лейн (239)

6.9 Влияние изгиба Эвальда Болла*(240)

6.10 РАСПРАВЛЕНИЕ РАСПРАВЛЕНИЯ (242)

Упражнение (242)

Ссылки (247)

Глава 7 Электронная дифракция и кристаллическое обучение

7.1 Стабильность дифракционных схем (248)

7.2 Проекция и эксплуатация полярной стрельбы из красной лапши (255)

7.3 Линия Кикучи и ориентация образца (262)

7.4 Вторичная дифракция (270)

7.5 Электронная дифракция луча капитала*(272)

7.6 РАСПРАВЛЕНИЕ РАСПРАВЛЕНИЯ (295)

Упражнение (296)

Список литературы (301)

Глава 8 Изображение дифракционной подкладки TEM

8.1tem изображение Linance (303)

8.2 Дифракция, содержащая дефектные кристаллы (305)

8.3. Расстояние извлечения (307)

8.4 Амплитуда фазовая диаграмма (310)

8.5 Толщина образца (311)

Изогнутая контурная линия 8.6tem (316)

8.7 Дифракционная подкладка поля Йинли (320)

8,8 бит неправильно и определение вектора Берга (322)

8.9 Неправильная полуофиксированная количественная дифракционная подкладка (333)

8.10 Неправильный букет скрытый полевой визуализация (338)

8.11 полосы на интерфейсе (344)

8.12 Dragoning Lining с слоем укладка ошибок (350)

8.13 обратная фаза (π) Граница иδГраница (359)

8.14 Подкладка осадков и других дефектов (361)

8.15 РАСПРАВЛЕНИЕ РАСПРАВЛЕНИЯ (366)

Упражнение (367)

Ссылки (372)

Глава 9 Дифракционная линия

9.1 Дифракционные лучи и свертка (374)

9.2 Объем раствора преобразования Фурье (383)

9.3 Одновременный ответ и расширение размера (388)

9.4 Дифракционные линии, вызванные колоннами кристаллических столбцов (393)

9.5 Комментарии дифракционной строки (398)

9.6 РАСПРАВЛЕНИЕ (400)

Упражнения (401)

Ссылки (402)

Глава 10 Функция и диски Патсона

10.1 Функция Patson (404)

10.2 диски атомного смещения (414)

10.3 Химическое беспорядочное рассеяние (424)

10.4 Африканский кристаллический материал*(432)

10,5 Маленькие рога рассеяния (441)

10.6 РАСПРАВЛЕНИЕ РАСПРАВЛЕНИЯ (449)

Упражнение (450)

Ссылки (453)

ГЛАВА 11 Высокая другая история о ТЕМ

11.1 Принципы Гуги (455)

11.2 Физический оптический оптический (466)

11.3 Экспериментальное изображение высокого уровня (471)

11.4 Моделирование статуй ПЭМ*(485)

11,5 Примеры изображения TEM High (491)

11.6 РАСПРАВЛЕНИЕ (508)

Упражнения (509)

Ссылки (510)

Глава 12 Высокая дифференциальная ствола и связанная с ним технология визуализации

12.1 Особенности высокоугольного кольцевого изображения скрытого поля (512)

12.2 Электронный канал вдоль атомной колонки (515)

12.3 Проходная электроника (519)

Сравнение 12,4 визуализации HAADF и HRTEM*(521)

12.5 HAADF Визуализация атомного разрешения (523)

12.6 Разница в девственности и имитации сходства*(525)

Пример коррекции 12,7CS (530)

12.8 Электронный анализ слоев (533)

12.9 Расширение чтения (536)

Упражнения (536)

Ссылки (537)

Глава 13

13.1 Резюме этой главы (539)

13.2 Математические особенности электронов с высокой энергией в потенциале цикла *(541)

13.3 Первый метод теории динамики——Связь луча (549)

13.4 Второй метод теории динамики——Blochbobe и Sanda Loodles (552)

13.5 Суть теории спорта и теории динамики (568)

13.6 Дифракционное отклонение SG (571) в теории динамики двойного луча

13.7 Динамическая дифракционная облицовка кристаллических дефектов (575)

13.8 Мульти -бумовая динамическая теория электронной дифракции *(586)

13.9 РАСПРАВЛЕНИЕ (588)

Упражнение (589)

Ссылки (591)

Приложение

A.1 Порошок x -Ray Дифракционная экспоненциальная калибровка индекса (593)

A.2 Особенности x -ray kα-Дадмид коэффициент ослабления (594)

A.3x -Ray Atom (рассеяние) Коэффициент формы (596)

A.4x Ray рассеяние рассеяния школьной коррекции (596)

Атомы атомов (рассеяние) атомов (рассеяние) и другие атомы напряжения (рассеяние) Методы преобразования коэффициента формы (603)

A.6.

A.7 Polar Shot Red Loodle Project (619)

A.8 экземпляр преобразования Фурье (623)

A.9 Debye-Waller Factor (625)

Во время A.10 изменчивость и не -эластичное рассеяние нейтронов (626)

A. 11 цифр неправильного обзора (628)

А.12TEM Лабораторная подготовка (634)

A.13 Основная постоянная и экспортная постоянная (643)

индекс

PostScript