Бесплатная доставка x -ray polycrystalline difraction data reietveld Уточнение и программное обеспечение GSAS Физика естественные науки Теоретическая физика компьютерная и интернет -программное обеспечение и метод программного обеспечения
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товара
| X -ray поликристаллические дифракционные данные Rietveld Уточнение и вход программного обеспечения GSAS | ||
 | Ценообразование | 45.80 |
| Издатель | Китайская индустрия строительных материалов Пресс | |
| Издание | 1 | |
| Опубликованная дата | Июнь 2016 года | |
| формат | 16 | |
| автор | Zheng Zhenhuan, Li Qiang | |
| Украсить | Платформный порядок | |
| Количество страниц | ||
| Число слов | ||
| Кодирование ISBN | 9787516014561 | |
| масса | 194 | |
Полный спектр Rietveld стал важным методом для кристаллической структуры кристаллической коррекции x -Ray.Эта книга разделена на четыре главы, которые фокусируются на основных принципах и процессе уточнения метода Rietveld из примера операции.Первая глава кратко представляет обзор разработки и основные принципы метода Rietveld.Глава 2 Представьте интерфейс установки и используйте изысканный программный обеспечение expgui-gsas.Глава 3 представляет экспериментальный тест рентгеновских поликристаллических дифракционных данных Rietveld и используйте простой пример, чтобы продемонстрировать процесс уточнения Expgui-GSAS и результаты результатов и чертежа карты.В главе 4 приведены три примера улучшения упражнений, включая создание файлов параметров прибора, количественного анализа аморфных смесей и поправок к размещению.
Глава 1 Ремонт структуры метода Rietveld
1.1 Rietveld Method Structure Report and Development Обзор разработки
1.2 Основные принципы метода Rietveld
1.3 Последовательность коррекции параметров и суждение результатов
1.3.1 Последовательность коррекции параметров
1.3.2 Уточненное числовое суждение
1.3.3 Фиксированное решение по графику
1.4 Проблемы и контрмеры в изысканном процессе
1.5 Применение уточнения структуры метода Rietveld
1.5.1 исправить кристаллическую структуру
1.5.2 Исследование фазового изменения и постоянное измерение линии -матрицы
1.5.3 Анализ количества объектов
1.5.4 Размер гральины и определение изменения микроконента
Глава 2 Expui-GSAS Software Установка и введение интерфейса
2.1 GSAS Software Введение
2.2 Установка программного обеспечения Expgui-GSAS
2.3 Expgui-GSAS программного интерфейса введение
2.3.1 Бар меню
2.3.2 Интерфейс вкладки
2.3.3 Excgui Help Content
Глава 3 Expui-GSAS Структура Структура Структура Начало начала начала
3.1 Подготовка перед уточнением
3.1.1 Определение дифракционных данных
3.1.2 Преобразование дифракционных данных
3.1.3 Приобретение начальной структуры
3.2 Excgui уточнение простой пример
3.2.1 Сгенерировать файл EXP
3.2.2 Процесс ремонта
3.2.3 Общие вопросы
3.3 Уточнение результатов извлечения и рисунка
3.3.1 Извлечение изысканных результатов
3.3.2.
Глава 4 Expui-GSAS улучшает упражнения
4.1 Создание файла параметров прибора
4.1.1 Основные знания
4.1.2 Процесс работы
4.2 Количественный анализ
4.2.1 Основные принципы
4.2.2 Тест на дифракционные данные
4.2.3 Процесс ремонта
4.3 LE Method Method Method и использование сдержанности
4.3.1 Описание проблемы
4.3.2 Процесс ремонта