8 (905) 200-03-37 Владивосток
с 09:00 до 19:00

Теоретическая и практика анализа патентных цитат Boku.com

Цена: 1 150руб.    (¥54.4)
Артикул: 573307429314

Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.

Этот товар на Таобао Описание товара
Продавец:博库旗舰店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥48.891 034руб.
¥667.5514 026руб.
¥19402руб.
¥651 374руб.
  • Информация о товаре
  • Фотографии

Об авторе:
Лян Йонгксия из Юнчанга, Шаньси, является редакционным директором и ассоциированным исследовательским библиотекарем «Исследования науки о науке и техниках» в литературном и информационном центре. Ее основные направления исследования - научная метрология, анализ цитирования, график научных знаний, оценка журнала и управление и т. Д. Он руководил и участвовал в ряде исследований по провинциальным и министерским проектам, опубликовал более 30 статей, опубликовал одну монографию и составила четыре книги.
Краткое содержание:
«Теория и практика анализа патентной цитирования», написанная Ян Чжунгкай и Лян Юнксия - это разведка, которая проводит анализ и исследования патентной цитирования. Во -первых, начиная с концепции и теории анализа цитирования, понимайте общую основную линию потока знаний, расширяйте основную концептуальную структуру анализа патентной цитирования и объясните внутренний механизм анализа патентной цитирования. Во -вторых, из двух измерений пространства и времени, основанных на массовых данных и использования визуальных инструментов и методов, траектория диффузии знаний и эволюция в действиях в патентной цитировании выявлена ​​изображением и интуитивно понятным образом. Наконец, общие характеристики и индивидуальные характеристики технологического развития измеряются и анализируются на основе данных о патентной цитировании. В этой книге показаны академические перспективы анализа патентной цитирования с трех уровней: теория, метод и применение, а также имеют сильное теоретическое значение и практическую ценность.
     Эта книга доступна для учителей, исследователей и аспирантов, занимающихся научной метрологией и исследованиями патентной метрологии.
    

......

Оглавление:
последовательность
Глава 1 Основные теоретические вопросы в анализе цитирования
1.1 Связанные концепции анализа цитирования
1.2 Общий контекст разработки анализа цитирования
1.3 Теория потока знаний в процессе цитирования
1.4 Два измерения анализа цитирования
1.5 Объекты и содержание анализа цитирования
Рекомендации
Глава 2 Основные теоретические вопросы в анализе патентной цитирования
2.1 Определение основных понятий и теоретического анализа
2.2 ** Статус внешнего исследования
2.3
2.4 Technology Evolution Tree на основе патентных цитат
2.5 Институциональная основа для анализа патентной цитирования
Рекомендации
Глава 3 Анализ деятельности по геопространственным знаниям на основе патентных цитат
3.1 ** Статус внешнего исследования
3.2 Загрузка и обработка данных, методы анализа и инструменты и программное обеспечение
3.3 Визуальный анализ геопространственных отношений в сети патентной цитирования
3.4 Анализ взаимосвязи между Китаем и другими ** (регионами) на основе сети патентной цитирования
Рекомендации
Глава 4 Визуальный анализ технических пространственных отношений на основе патентных цитат
4.1 Основные технические поля
4.2 Маленькая категория технического поля.
4.3. Исследование взаимосвязей между ** (регионы) в различных технических областях
Глава 5 Идентификация пути эволюции технологии на основе патентных цитат
5.1 ** Статус внешнего исследования
5.2 Методы определения путей эволюции технологий на основе сети патентной цитирования
5.3 Инструменты идентификации для пути технологической эволюции
5.4 Эмпирическое исследование 1—— принятие технологии Ethernet в качестве примера
5.5 Эмпирическое исследование 2—— Возьмите солнечные батареи в качестве примера
Рекомендации
Глава 6 Анализ характеристик технического развития на основе патентных цитат
6.1 Анализ тенденции интеграции технологии на основе индекса оригинальности
6.2 Анализ ** технической силы на основе индикаторов цитирования патента
6.3 Метрический анализ технических характеристик высокопроизводительных патентов
Рекомендации
Цветная карта

......

Основная информация
Название продукта:Теоретическая и практика анализа патентных цитат Boku.comформат:16
Автор:Ян Чжункай // Лян ЮнксияКоличество страниц:
Цены:68Время публикации:2017-09-01
Номер ISBN:9787030543684Время печати:2017-09-01
Издательство:наукаИздание:1
Типы продукта:книгиВремя печати:1
Цвет страница: