ГБ/т 34612-2017 Кристаллические рентгеновские рентгеновски
Цена: 282руб. (¥13.3)
Артикул: 560473392690
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:京建科图书专营店
Адрес:Пекин
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥12.8271руб.
¥13.3282руб.
¥17.4368руб.
¥11.9252руб.
| Сапфировый кристалл x -ray двойной дифракционный метод измерения дифракционной дифракционной кривой качания | | |
| Автор: | | |
| Издатель: China Quality Inspection Press | | |
| Переводчик: | | |
| Количество больших 16 открытых страниц: 12 слов: 10 | | |
| ||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| краткое введение | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Этот стандарт определяет метод измерения двойной кривой сапфирового кристалла x -ray. Этот стандарт подходит для измерения двойной кривой с двойной дифракцией сапфирового кристалла. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||