GB/T 31227-2014 Атомно-мощный микроскоп микроскопия измерение шероховатости поверхности шероховатости поверхности пленки пленки
Цена: 360руб. (¥20)
Артикул: 667872816455
Вес товара: ~0.7 кг. Указан усредненный вес, который может отличаться от фактического. Не включен в цену, оплачивается при получении.
Описание товараПродавец:盛世建标图书音像专营店
Рейтинг:
Всего отзывов:0
Положительных:0
Добавить в корзину
Другие товары этого продавца
¥ 22.3 20.3365руб.
¥21.2382руб.
¥38.8698руб.
¥13.6245руб.
Примечание: в пятницу 12: 00-заказ в воскресенье опирается из-за склада на выходных, и он выпущен в понедельник. Пожалуйста, подробно обратитесь к онлайн-обслуживанию клиентов.Надеюсь, твои дорогие!Пересечение
| GB/T 31227-2014 Метод атомной микроскопии измерил шероховатость поверхности пленки распыления | |
| 【Стандартное оборудование】 | GB/T 31227-2014 |
| 【Стандартное имя】 | Метод атомной микроскопии измерил шероховатость поверхности пленки распыления |
| 【Английское имя】 | Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films |
| 【Издательский блок】 | Китайский инспекция качества и издательство China Standard Press |
| 【Победная классификация】 | > > |
| 【Отдел выпуска】 | Национальное управление качеством надзора и инспекции, а также комитет по управлению карантином и национальным управлением стандартизацией |
| 【Получите обменную единицу】 | Национальный Стандартизация Технический комитет Nano -Nanotina |
| 【Блок составы】 | Университет Шанхай Цзяотон, Нано технологии и применение Национальное инженерное исследовательское центр |
| 【Номер плана】 | 20078478-T-491 |
| 【Дата выпуска】 | 30 сентября 2014 г. |
| 【Дата реализации】 | 15 апреля 2015 г. |
| 【Дата публикации】 | 2014.10 |
| 【Стандартные цены】 | 16.00 Юань |
| краткое введение | |
| Этот стандарт указывает метод использования атомной микроскопии (AFM) для измерения шероховатости поверхности. Этот стандарт применим к пленке, сгенерированной методом, генерируемым пленкой пленки, средняя шероховатость RA составляет менее 100 нм. |
1
